合肥科晶 M-3手持式四探針測試儀
產(chǎn)品概述:
M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
合肥科晶 M-3手持式四探針測試儀產(chǎn)品特征:
- 測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成
- 手持式設(shè)計,帶完善厚度、形狀修正功能,測試精準
- 寬量程:超寬五個檔位,相當于中檔臺式機的量程
- 操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示
- 多款探頭可選,適用于各種不同材料的導電性能測試
工作電源:
- 208-240V,50/60Hz
- 電池供電:DC3.7V
探頭:
- 根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配
碳化鎢探針探頭(固體材料):測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料
球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):可測金屬箔、碳紙等導電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層
- 探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差
選配:可選配快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進行調(diào)節(jié)保證恒壓測試,提高測試的精確度
測量范圍、分辨率:
- 電阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω
- 電阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm
- 方塊電阻:0.050~100.00kΩ/m2 分辨率0.001~10Ω/m2
基本誤差:±1%FSB±2LSB
外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H
凈重:0.3kg