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原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM

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廠商性質經(jīng)銷商

所  在  地上海市

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更新時間:2024-06-26 13:22:53瀏覽次數(shù):369次

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原子力顯微鏡FM-Nanoview1000AFM一、主要特點1.光機電一體化設計,外形結構簡單

原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM

一、主要特點

1.光機電一體化設計,外形結構簡單;

2.掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;

3.精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調節(jié)簡單,操作方便;

4.采用精密探針定位模塊,更換探針簡單方便

5.采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;

6.伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅動樣品垂直接近探針,實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位;

7.高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域;

8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;

9.帶光學定位的CCD觀察系統(tǒng),實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域

10.模塊化的電子控制系統(tǒng)設計,便于電路的持續(xù)改進與維護;

11.集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用。

12.彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,抗干擾能力強



二、友好的軟件界面及操作功能


1. 可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512

2. 多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖

3. 可進行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域

4. 可任意選擇樣品起始掃描角度

5. 激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調整功能

6. 可任意定義掃描圖像的色板功能

7. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能

8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正

9. 支持樣品圖片離線分析與處理功能


三、技術規(guī)格

名 稱參 數(shù)名 稱參 數(shù)
工作模式

1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力

掃描角度任意
樣品尺寸Φ≤90mm;H≤20mm樣品移動范圍0~20mm
*大掃描范圍橫向20um,縱向2um馬達趨近脈沖寬度10±2m
掃描分辨率橫向0.2nm,縱向0.05nm光學放大倍數(shù)4X
掃描速率0.6Hz~4.34Hz光學分辨率2.5um
掃描控制XY采用18-bit D/A
Z采用16-bit D/A
圖像采樣點256×256,512×512
數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D
多路同步采樣
反饋方式DSP數(shù)字反饋
計算機接口USB2.0反饋采樣速率64.0KHz
運行環(huán)境運行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)



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