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LZH-4C 電子散斑干涉實驗儀

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更新時間：2024-08-14 11:13:27瀏覽次數(shù)：83次

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  物理光學(xué)實驗設(shè)備

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天津良益科技股份有限公司

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產(chǎn)品簡介

儀器簡介：電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點，電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試

詳細(xì)介紹

儀器簡介：

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點，電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。電子散斑干涉實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來研究物體離面形變，是計算機(jī)圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機(jī)，使之可采用計算機(jī)處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。