全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī) AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實(shí)現(xiàn)了在同...

Phenom MAPS 大面積能譜拼接作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集，并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供...

飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物...

飛納電鏡全景拼圖【新品】全新界面，一鍵掃描更便捷掃描“形狀"自定義大樣品全景觀測高清圖像無錯位

適用金屬和礦物研究—ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析

飛納Phenom ParticleX全自動汽車清潔度分析系統(tǒng)以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動對顆?；螂s質(zhì)進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以...

全自動鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)特點(diǎn)：01以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，02 多項(xiàng)設(shè)計(jì)，保證高通量快速運(yùn)行，03 靈活定制自動分析流程，04標(biāo)準(zhǔn)化檢測流程，提升產(chǎn)品...

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動對正負(fù)極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，整個過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆...

秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、*防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式場發(fā)射電鏡 Phenom...

Thermo Scientific™ Apreo SEM 場發(fā)射電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非常困難的樣品也可...

對高分辨率成像來說， 桌面掃描電鏡 Phenom Pure 是經(jīng)濟(jì)節(jié)約型的產(chǎn)品，與同類產(chǎn)品相比，它能提供更佳的成像效果。

來自飛納桌面電鏡的 Phenom XL G2，可自動進(jìn)行質(zhì)量控制，并提供準(zhǔn)確、可重復(fù)的檢測結(jié)果，讓您騰出時間進(jìn)行其他更有價值的工作。

第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的...

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過...

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

結(jié)合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡...

高性價比掃描電鏡 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像，而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝載樣品，短時間內(nèi)...

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代...

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phen...

荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射...