詳細(xì)摘要： FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個DualBeam系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實(shí)...

詳細(xì)摘要： FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡是 FEI *的 XHR（*分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至...

詳細(xì)摘要： 蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和...

詳細(xì)摘要： FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑...

詳細(xì)摘要： FEI Talos F200系列 場發(fā)射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線光譜儀 ...

詳細(xì)摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500...

詳細(xì)摘要： 蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式...

詳細(xì)摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...

詳細(xì)摘要： FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...

詳細(xì)摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺，設(shè)計(jì)用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動泵...