詳細摘要： 元器件熱沖擊用于測試電子產品，電子，電器，電子產品，電子元器件，數(shù)碼產品，手機，電腦，太陽能組件等產品及零部件在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以...