| 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
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| 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
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HGTZ-900華測(cè)高溫低電阻測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：HGTZ-900高溫低電阻測(cè)試儀器采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。 產(chǎn)品型號(hào)：HGTZ-900 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-15 |
參考價(jià):¥44433 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCQB-30KV漆包線擊穿耐壓測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：漆包線擊穿耐壓測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)固體絕緣材料（如：絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等）在工頻電壓下?lián)舸╇妷?，擊穿?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。儀器對(duì)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行采集、處理、存取、顯示、打印。 產(chǎn)品型號(hào)：HCQB-30KV 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥23423 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCTZ-2S四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。 產(chǎn)品型號(hào)：HCTZ-2S 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥45454 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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鐵電分析儀 壓電鐵電熱釋電 靜態(tài)電滯回線 簡(jiǎn)單介紹：Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。鐵電分析儀 壓電鐵電熱釋電 靜態(tài)電 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥45444 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDL—2高壓電痕化指數(shù)測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：高壓電痕化指數(shù)測(cè)試儀在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 （0.1%NH 4 CL） ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDL—2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥34333 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDL—2華測(cè)高壓電痕化指數(shù)測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：華測(cè)高壓電痕化指數(shù)測(cè)試儀在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 （0.1%NH 4 CL） ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDL—2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥45443 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDL429絕緣油介電強(qiáng)度測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：絕緣油介電強(qiáng)度測(cè)試儀 ：絕緣油廣泛應(yīng)用于充油電纜、油斷路器、變壓器、電力電容器和油套管等高壓電氣設(shè)備中。在運(yùn)行中，絕緣油由于受到陽(yáng)光、雜質(zhì)、氧氣、高溫度、高濕度、強(qiáng)電場(chǎng)等的作用，性能會(huì)逐漸變壞，致使它不能充分發(fā)揮絕緣作用，為此必須定期地對(duì)絕緣油進(jìn)行有關(guān)試驗(yàn)，以鑒定其性能是否變壞。絕緣油的質(zhì)量與擊穿電壓有密切的關(guān)系。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDL429 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥34544 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDR-300華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀 寬度根據(jù)要求定不用切卷 簡(jiǎn)單介紹：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地設(shè)備的可靠性、穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀 寬度根據(jù)要求定不用切卷 產(chǎn)品型號(hào)：HCDR-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥34333 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCRD-300華測(cè)電弱點(diǎn)檢測(cè)儀 簡(jiǎn)單介紹：電弱點(diǎn)測(cè)試儀，據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：HCRD-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥34333 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HC華測(cè)新品漏電起痕試驗(yàn)儀（新款） 簡(jiǎn)單介紹：新品漏電起痕試驗(yàn)儀（新款）產(chǎn)品簡(jiǎn)介 耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。 產(chǎn)品型號(hào)：HC 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45431 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDH-3高壓漏電起痕試驗(yàn)儀 簡(jiǎn)單介紹：HCLD-3系列高壓漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子PLC作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感 器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻電壓下,通過(guò)液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級(jí)升壓漏電起痕電壓法。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDH-3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥43543 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HGLD新型高壓漏電起痕試驗(yàn)儀 簡(jiǎn)單介紹：新型高壓漏電起痕試驗(yàn)儀在原有的基礎(chǔ)上增加了5個(gè)電流式指針表，可同時(shí)對(duì)5個(gè)樣品進(jìn)行采樣測(cè)試，讀出實(shí)時(shí)測(cè)量值。5個(gè)電流式指針表和電流傳感器共同工作測(cè)量電流，確保了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)更加真實(shí)精確。此儀器還具有TVS高壓防護(hù)技術(shù)、低通濾波采集技術(shù)、SPWM電子升壓技術(shù)、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)、*的軟件平臺(tái)技術(shù)等優(yōu)勢(shì)。 產(chǎn)品型號(hào)：HGLD 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45443 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：低壓漏電起痕測(cè)試儀（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s） 定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 （0.1%NH 4 CL） ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDH-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45443 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCLD-3華測(cè)儀器-低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：華測(cè)儀器-低壓漏電起痕測(cè)試儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的檢測(cè)儀器，適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器的固體絕緣材料及其產(chǎn)品模擬在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定，具有簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。 產(chǎn)品型號(hào)：HCLD-3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45333 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45433 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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100vK新型電壓擊穿試驗(yàn)儀 簡(jiǎn)單介紹：新型電壓擊穿試驗(yàn)儀-2 1、過(guò)電流保護(hù)裝置應(yīng)有足夠靈敏度以保證試樣擊穿時(shí)在0.1S內(nèi)切斷電源。 2、漏電電流選擇：1—100 mA可由計(jì)算機(jī)軟件自由進(jìn)行設(shè)定。 3、本儀器采用*的西門(mén)子PLC無(wú)觸點(diǎn)原件勻速調(diào)壓方式，淘汰同類(lèi)產(chǎn)品中機(jī)械傳動(dòng)升壓方式。 4、支持短時(shí)間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。（其它同類(lèi)產(chǎn)品無(wú)此功能） 產(chǎn)品型號(hào)：100vK 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥56541 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDJC-100KV100KV高電壓電壓擊穿試驗(yàn)儀 簡(jiǎn)單介紹：100KV高電壓電壓擊穿試驗(yàn)儀-1用途 電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDJC-100KV 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45653 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 簡(jiǎn)單介紹：面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45443 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCDZ-300絕緣油脂體積電阻率測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：HCDZ-300絕緣油脂體積電阻率測(cè)試儀主要針對(duì)于絕緣油脂類(lèi)及電力油脂類(lèi)材料的體積電阻率測(cè)試。本試驗(yàn)儀器由中國(guó)石油化工研究院、北京華測(cè)儀器有限公司、中國(guó)石油昆侖潤(rùn)滑油天津分公司、中國(guó)電力科學(xué)研究院聯(lián)合共同開(kāi)發(fā)。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDZ-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-01 |
參考價(jià):¥25000 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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HCJD200-1絕緣油介質(zhì)損耗及體積電阻率測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展及電力行業(yè)對(duì)體積小、重量輕、操作方便、測(cè)量迅速、精度高的測(cè)量?jī)x器要求，我公司參考國(guó)內(nèi)外相關(guān)儀器研制出了在國(guó)內(nèi)較為*的絕緣油介質(zhì)損耗及體積電阻率測(cè)試儀，在電力設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中，要求對(duì)電力設(shè)備的絕緣油參數(shù)進(jìn)行定期測(cè)量。此儀器是依據(jù)GB/T5654-2007《液體絕緣材料 相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量》設(shè)計(jì)制造的。 產(chǎn)品型號(hào)：HCJD200-1 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-01 |
參考價(jià):面議 詢(xún)價(jià)留言 | ||
