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詳細介紹
PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
PCT老化箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計,復(fù)合國家安全容器標準,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗箱鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動.
B、超壓安全保護：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過工作值自動排氣泄壓.
C、超溫保護：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.
D、防燙傷保護：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動安全保護排壓伐.
PCT試驗箱對半導(dǎo)體的PCT測試：PCT最主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
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