胡經理
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納米傅里葉紅外光譜儀
應用案例:
對納米尺度污染物的化學鑒定
AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體(暗色區(qū)域B)與PMMA薄膜(A)之間可以觀察到一個小的污染物。機械相位圖像中(中),對比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質。將點A和B的nano-FTIR 吸收光譜(右),與標準紅外光譜數(shù)據(jù)庫對比, 獲得各部分物質的化學成分信息. 每條譜線的采集時間為7min
nano-FTIR 可以應用到對納米尺度樣品污染物的化學鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖,其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個100nm尺寸的污染物,但是其化學成分無法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學成分。通過對nano-FTIR獲得的吸收譜線與標準FTIR數(shù)據(jù)庫中譜線進行比對,可以確定污染物為PDMS顆粒。
納米傅里葉紅外光譜儀技術參數(shù)配置:
■ 反射式 AFM-針尖照明 ■ 標準光譜分辨率: 6.4/cm-1 ■ 無背景探測技術 ■ 基于優(yōu)化的傅里葉變換光譜儀 ■ 采集速率: Up to 3 spectra /s | ■ 高性能近場光譜顯微優(yōu)化的探測模塊 |
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