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詳細介紹
超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀特點：
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀應用廣泛：(a) 太陽能光伏薄膜領(lǐng)域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe；(b) LCD, FPD領(lǐng)域-ITO, Cell Gaps, Polyamides；(c) 光學薄膜領(lǐng)域-介質(zhì)濾波器，加硬膜，減反射膜；(d) 半導體和電解質(zhì)領(lǐng)域-Oxides, Nitrides, OLED stack
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀即時測量和數(shù)據(jù)分析
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀強大的數(shù)據(jù)庫：已經(jīng)有了500多種常用的材料參數(shù)，新的材料也容易添加，并能根據(jù)需要添加相應的材料特性參數(shù)-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀連接方便，使用自如：不管實在實驗室獨立使用，還是在研發(fā)或者是工廠連續(xù)生產(chǎn)中不間斷在線持續(xù)監(jiān)測膜層厚度，都能在10分鐘內(nèi)完成安裝，與電腦或是網(wǎng)絡(luò)的連接十分方便
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀測量數(shù)據(jù)完整：除了膜層的厚度，還能測量光學參數(shù)和表面平整度
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀使用人性化，功能強大：一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真功能，內(nèi)部自我糾正，多樣品測量，動態(tài)監(jiān)測和產(chǎn)品批量監(jiān)測.
| 產(chǎn)品尺寸 | 8″x 4″x10″ |
| 測量精度 | <0.01nm or 0.01% |
| 穩(wěn)定性 | <0.02nm or 0.03% |
| 光斑尺寸 | 2mm to 3um |
| 樣品大小 | 可以小至1 mm |
| 測量范圍 | 1 nm - 1000 um |
| 波長范圍 | 200nm -8000nm |
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