制藥網(wǎng)
詳細(xì)介紹
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
制藥網(wǎng)