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詳細(xì)介紹
國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀是一款主機(jī)與探頭分離的涂鍍層測(cè)厚儀，由LS225多探頭涂鍍層測(cè)厚儀主機(jī)與F500探頭組成。用于檢測(cè)鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的鍍銅，鍍鋅，鍍錫，鍍鉻以及涂料、清漆、搪瓷等非磁性涂鍍層。儀器具有超高的測(cè)量精度和重復(fù)性，可用于測(cè)量10μm以下的超薄涂鍍層厚度測(cè)試。
國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀特別適用于測(cè)試小尺寸材料，最小測(cè)量區(qū)域直徑小至7毫米。提供專用的手壓測(cè)試機(jī)架供用戶選購(gòu)，對(duì)于超薄涂鍍層或異形小尺寸材料，使用專用手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試，數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)穩(wěn)定，尤其適合螺釘，螺栓等小工件以及各種異型材料的薄鍍層厚度測(cè)量。
主機(jī)參數(shù)
| 顯示 | 240×160點(diǎn)陣LCD |
| 供電方式 | 4節(jié) 1.5V AAA堿性電池 |
| 工作溫度范圍 | 0℃-50℃ |
| 存儲(chǔ)溫度范圍 | -20℃-60℃ |
| 主機(jī)尺寸 | 148*76*26 mm |
| 重量（含電池） | 194g |
探頭參數(shù)
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) |
| 基體材料 | 鐵磁性金屬 |
| 測(cè)量范圍 | 0.0-500μm |
| 分辨率 | 0.1μm:（0μm - 99.9μm） 1μm:（100μm - 500μm） ≤±(0.1μm+0.8%) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試 |
| 重復(fù)性 | ≤±(0.8%讀數(shù)+0.1μm) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試 |
| 測(cè)量精度 | ±(2%讀數(shù)+0.3μm) 五點(diǎn)校準(zhǔn) |
| 單位 | μm / mil |
| 測(cè)量間隔 | 1.5s |
| 最小測(cè)量區(qū)域 | ?=7mm |
| 最小曲率半徑 | 凸面1.5mm, 凹面10mm |
| 最小基體厚度 | 0.1mm |
| 用戶校準(zhǔn) | 支持零點(diǎn)校準(zhǔn)，1點(diǎn)到5點(diǎn)校準(zhǔn) |
| 探頭尺寸 | 長(zhǎng)110mm×直徑15mm(不包括連線) |
| 探頭重量（含電池） | 81g |
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