詳細摘要： 徠卡研究級半自動正置金相顯微鏡DM4M具有可實現(xiàn)反射、透反射觀察配置,復消色差光路,整體光路支持25mm視野直徑,觀察方式可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、微分干涉,光強...

詳細摘要： 新徠卡DM1750 M是專為快速,準確的分析結果,即使是在惡劣的環(huán)境條件下使用的材料顯微鏡.

詳細摘要： 徠卡DM2700M例行檢查任務,金相,地球科學,取證調查,材料質量控制和研究各種顯微鏡.

詳細摘要： 徠卡金相顯微鏡DM6000M配備自動的透射光明場,暗場,相襯,偏光,微分干涉功能.徠卡金相顯微鏡DM6000M帶有全自動功能轉換:明場,暗場,相襯,偏光,微分干...

詳細摘要： 徠卡正置金相顯微鏡DM2500M是Leica公司2005年推出的產品。該臺徠卡金相顯微鏡在光學設計上采用HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，消除雜散光等干...

詳細摘要： 徠卡金相顯微鏡DM4000M配備的LEICA DM4000M-CLEANLINESS EXPERT 版本專用全自動顯微鏡，自動掃描，自動對焦應用于符合ISO16...

詳細摘要： 倒置金相顯微鏡DMI5型廣泛用于機械工業(yè)的金相組織觀察分析，地礦部門對礦物的分析研究，電子等方面的觀察測量，或用于觀察材料表面特性。

詳細摘要： 徠卡倒置金相顯微鏡DMI5000M是久負盛名的Leica MeF4，MEF3的接班者，不但能給您帶來真彩圖像品質。其智能化操作將令您體驗到專業(yè)顯微技術帶來的愉悅...

詳細摘要： 徠卡金相顯微鏡DMI3000M是一款手動倒置式顯微鏡,使用非常方便,能針對特定的用戶需求提供度身定制的系統(tǒng).徠卡金相顯微鏡DMI3000M的載物臺驅動裝置和調焦...

詳細摘要： 偏光顯微鏡XPL-20是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器

詳細摘要： 偏光顯微鏡XPL-30是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常有的專業(yè)實驗儀器之一。

詳細摘要： 偏光顯微鏡 XPL-10是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器

詳細摘要： 尼康偏光顯微鏡LV100POL光學性能優(yōu)異、用途廣泛的高品質偏光顯微鏡，可用于各種專業(yè)偏光檢驗

詳細摘要： 奧林巴斯偏光顯微鏡BX41-P采用奧林巴斯UIS無限遠校正光學系統(tǒng)，系統(tǒng)具有多用性和積木性。

詳細摘要： 奧林巴斯偏光顯微鏡BX51-P用于地質、石油、化工、高分子、液晶等領域

詳細摘要： 奧林巴斯偏光顯微鏡CX31-P磷容納高性能偏光觀察UIS2目標包括PL4xP-P系列和UPLFL - P系列

詳細摘要： 蔡司偏光顯微鏡Axio Lab.A1 POL型可以從種類繁多的ICS物鏡中選擇一種，例如EC Plan-Neofluar POL 或者N-Achroplan P...

詳細摘要： 蔡司偏光顯微鏡Axio Scope A1 pol型是偏光顯微鏡Axioskop 40 pol全新升級產品，遵循蔡司高質量標準制造，提供優(yōu)異的價值和性能。它在透射...

詳細摘要： 徠卡偏光顯微鏡DM2500P高度可調的聚焦器,能很好的適應每位用戶的手型；防止手掌、手臂、肩膀的緊張,保持工作姿勢舒服,無疲勞感。

詳細摘要： 徠卡偏光顯微鏡DM4500P用于各種專業(yè)的偏振光觀察,例如:巖相學、礦物學、地質結構特性,液晶檢驗；徠卡偏光顯微鏡是您的選擇之一