詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-51DIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究