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HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱

試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱

特點(diǎn)

·高機(jī)能：采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)， 測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，直觀易操作

·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程。

·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換?？赏瑫r(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測(cè)試自檢功能：點(diǎn)檢、校正方便。

·設(shè)計(jì)精巧，不受場(chǎng)所限制，易移動(dòng)。

·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。

HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱

用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車(chē)規(guī)級(jí)芯片