當前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>儀器儀表>>數(shù)字源表>> S100/S200/S300miniled光電特性測試數(shù)字源表
產品型號S100/S200/S300
品 牌其他品牌
廠商性質生產商
所 在 地武漢市
聯(lián)系方式:陶女士查看聯(lián)系方式
更新時間:2024-01-30 14:59:07瀏覽次數(shù):633次
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自動化程度 | 半自動 |
MiniLED光電特性測試
MiniLED芯片在被封裝前后,需要經(jīng)過檢測工序,以剔除其中的不合格品。其中,光電性能檢測是非常重要的指標參數(shù)。光電性能檢測是指對晶圓上的芯片,或者封裝后的成品,對其電壓(V)、電流(I),VFD,波長(WD)、亮度(LOP)、抗靜電能力(ESD),等光電性性能逐一進行測試,得到實際數(shù)值,進而為后續(xù)加工生產提供可靠的產品實際性能信息。由于Mini LED具有尺寸小,使用數(shù)量大等特性,因此,其光電特性測試也提出了新的要求。
高精度微弱電流
由于MiniLED本身的特性,正向點亮測試時,輸入電流較小,一般在mA,甚至uA;反向高壓漏電流測試,電流甚至低至nA。精確穩(wěn)定地輸出與測量電流,是獲取準確測試結果數(shù)據(jù)的先決條件。
高效率
MiniLED生產工藝效率要求高,預留給芯片的電性能測試時間,一般控制在十幾ms以內。高效快速的輸出與檢測電壓、電流,是提升生產效率的重要保證。
廣泛兼容性
Mini LED測試,往往需采用自動化設備來進行,且測試項目包含電壓,電流等電特性參數(shù),以及光譜,光功率等光性能參數(shù)。廣泛的軟硬件兼容性,有助于終端用戶,根據(jù)實際測試要求,選配不同測試儀器,以及自動化設備。
利用數(shù)字源表進行Mini LED光電特性測試
實施MiniLED光電特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表作為獨立的恒壓源或恒流源,輸出恒壓或恒流、還可以當作表,進行電壓或者電流測量;支持Trig觸發(fā),可實現(xiàn)與光譜儀,探針臺,分選機等第三方設備聯(lián)動工作。
目前,光電性能檢測是通過Mini LED點測機實現(xiàn)的,用于測量晶圓上每一顆芯片。點測機的主要結構單元包括探針臺,電性能測試單元,光性能測試單元,以及上位機控制系統(tǒng)等。該工序根據(jù)實際情況,位于晶圓劃片前,或者后工序。設備基本構成主要包括探針臺,電子顯微鏡,SMU,ESD,工控機,積分球,光譜儀等。其中,SMU的作用是對芯片進行IV特性測試,同時在光學測試中,對芯片進行供電。
常用的電性能測試項目包括,VF1,VF2,IR,VZ,VFD,DVF等。
⑴ VF(正向電壓)測試, FIMV: 一般會測兩個點, D一個點VF1為 LED剛點亮時電壓, 第二個點VF2為LED 正常工作時的電壓;
⑵ VZ(反向擊穿電壓)測試, FIMV:一定反向電流時,器件兩端的電壓;
⑶ IR(反向泄露電流)測試, FVMI: 一定反向電壓時, 流過器件的電流;
⑸ DVF 測試,材料熱縮效應測試, FIMV: 對LED施加兩次不同的電流,并計算不同條件下的電壓差;
⑹ VFD 測試,正向電壓暫態(tài)峰值電壓測試, FIMV: 對LED施加一定的正向電流,同時采集電壓變化, 尖峰電壓與正常電壓的差值即為VFD;
miniled光電特性測試數(shù)字源表認準生產廠家武漢普賽斯儀表,武漢普賽斯一直專注于半導體,LED,激光器的光電性能測試儀表開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術平臺優(yōu)勢,S先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表,Mini LED源表測試系統(tǒng)等產品,廣泛應用在半導體,LED,激光器等產品的生產、研發(fā)、測試場景。可夠根據(jù)用戶的需求提供高性能,高效率,高性價比的半導體,LED,激光器測試系統(tǒng)級解決方案。miniled光電特性測試數(shù)字源表認準生產廠家武漢普賽斯儀表
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