超低溫變形系數(shù)試驗(yàn)箱是模擬氣溫變化試驗(yàn)的設(shè)備,現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化,高氣溫是午后2時左右,低氣溫是日出前后。年變化,北半球陸地上7月份熱1月冷,海洋上8月份熱2月份冷;南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化,就是因?yàn)槿藶閷?dǎo)致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化,為了能提前預(yù)知產(chǎn)品的耐變性,所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗(yàn)箱回去做評估或者預(yù)測試驗(yàn)。
快速溫變試驗(yàn)箱適用于通訊、光電、航空航天等產(chǎn)品試驗(yàn)用,還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產(chǎn)品、材料、電子產(chǎn)品、各種電子電器元?dú)饧跍囟瓤焖俎D(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)其的各項性能指標(biāo)是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min (可選擇線性或非線性變化)。
產(chǎn)品簡介:
本產(chǎn)品是根據(jù)用戶要求,參照GB2423[1].02高溫試驗(yàn)方法、GB2423[1].01低溫試驗(yàn)方法、GB2423[1].03恒定濕熱試驗(yàn)方法、GB2423[1].04交變濕熱試驗(yàn)方法相應(yīng)技術(shù)條件制造。主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,供用戶對整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度試驗(yàn),以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程必不可shao的重要試驗(yàn)手段。
試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計先jin合理,制造工藝規(guī)范,外觀美觀、大方。
2、該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用世界ming牌配置(含金量高)、技術(shù)原理先jin可靠、噪音與節(jié)能得到控制——其性能可替代國外同類產(chǎn)品。
3、零部件的配套與組裝匹配性好,主要功能元器件均采用具有國ji先jin水平的原裝jin口件,提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性,能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
4、設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。
5、試驗(yàn)箱主要由控制面板、配電盤、保溫隔層、送風(fēng)機(jī)、加熱器、冷凍機(jī)組合而成,主要規(guī)格可分為6種標(biāo)準(zhǔn)尺寸及10種不同條件之規(guī)范。
6、利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,使室內(nèi)溫濕度分布均勻。
7、完備的安全保護(hù)裝置,假如異常狀況發(fā)生時,控制器熒幕上即自動顯示故障狀態(tài),切斷電源開關(guān),并提供故障排除方法。
試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸:
內(nèi)箱容積:寬mm×高mm ×深mm
150L ;500×600×500
225L ;500×750×600
408L :600×850×800
800L :1000×1000×800
1000L:1000×1000×1000
溫變范圍:
-40℃~+85℃
-70℃~150℃
超低溫變形系數(shù)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB/150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)。
GJB/150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)。
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)。
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))。
GJB/150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn)。
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫。
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫。
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化。
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。