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光學納米粒度zeta電位儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
  • 品       牌
  • 型       號SZ-100 V2
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2025/2/27 10:32:56
  • 訪問次數(shù)73
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導發(fā)光技術獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!

 

 

 

科學儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
測量時間 2min 產(chǎn)地 進口
產(chǎn)品新舊 全新
納米粒度zeta電位儀基于激光散射和電泳技術原理工作.激光散射技術通過測量激光在納米顆粒中的散射角度和強度,從而得到納米顆粒的尺寸分布.
光學納米粒度zeta電位儀 產(chǎn)品信息
  一、基本原理
 
  納米粒度zeta電位儀基于激光散射和電泳技術原理工作。激光散射技術通過測量激光在納米顆粒中的散射角度和強度,從而得到納米顆粒的尺寸分布。電泳技術則是通過測量納米顆粒在電場作用下的遷移速度,進而推算出顆粒的表面電荷情況,即Zeta電位。Zeta電位是表征顆粒表面電荷的重要參數(shù),它反映了顆粒間相互排斥或吸引的力,從而影響顆粒在懸浮液中的穩(wěn)定性和分散性。
 
  二、主要功能
 
  1、粒度分析:納米粒度zeta電位儀能夠測量顆粒的尺寸分布,幫助用戶了解懸浮液中顆粒的平均尺寸和粒度分布情況。這對于研究顆粒的形成、生長和聚集過程具有重要意義。
 
  2、Zeta電位測量:通過測量顆粒的Zeta電位,可以評估顆粒的表面電荷性質(zhì),進而判斷懸浮液中顆粒的穩(wěn)定性。Zeta電位越高,顆粒間的排斥力越大,懸浮液越穩(wěn)定。
 
  3、表面電荷測定:除了Zeta電位外,還可以測定顆粒的表面電荷大小和性質(zhì),這對于理解顆粒與周圍環(huán)境的相互作用至關重要。
 

 

  三、應用領域
 
  1、材料科學:在納米材料的合成、表面修飾和功能化研究中,可用于監(jiān)測顆粒大小和表面電荷的變化,優(yōu)化合成條件,提高材料性能。
 
  2、生物醫(yī)學:在藥物遞送系統(tǒng)的設計和評估中,可用于測量藥物載體的粒徑和Zeta電位,確保其穩(wěn)定性和生物相容性。此外,它還可用于研究生物大分子的結(jié)構(gòu)和功能關系。
 
  3、環(huán)境科學:在水處理和廢水處理領域,可用于監(jiān)測懸浮顆粒物和污染物的粒徑和表面電荷,為水處理工藝的優(yōu)化提供科學依據(jù)。
 
  4、食品科學:在食品添加劑的研究和檢測中,可用于測量食品添加劑的粒徑和Zeta電位,確保其安全性和穩(wěn)定性。
 
  四、技術特點與優(yōu)勢
 
  1、高精度與高靈敏度:具有高精度的測量能力,能夠準確測量納米級顆粒的粒徑和Zeta電位。同時,其高靈敏度使得即使在低濃度下也能進行可靠測量。
 
  2、操作簡便與快速響應:該儀器操作簡便,用戶只需按照操作手冊進行簡單設置即可開始測量。測量過程快速,整個測試過程通常只需幾分鐘即可完成,大大提高了工作效率。
 
  3、高穩(wěn)定性與可靠性:在不同環(huán)境條件下都能進行可靠的測量,確保了數(shù)據(jù)的準確性和可重復性。
 
  五、發(fā)展趨勢與展望
 
  隨著納米科技的快速發(fā)展,納米粒度zeta電位儀的應用領域?qū)⒉粩嗤卣?。未來,該儀器將更加智能化、自動化,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供更加便捷、高效的測量解決方案。同時,隨著測量技術的不斷進步,其測量精度和性能將不斷提高,為科學研究和技術創(chuàng)新提供更加有力的支持。
關鍵詞:添加劑
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