性能特點
火花全譜直讀光譜儀OES8000s采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、
Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。
全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補充配置
儀器體積小巧，對實驗室空間要求低
工作時間長，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒
儀器使用和維護簡單、方便，對人員專業(yè)要求低
原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)準確，適用合號齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑，測試過程安全、環(huán)保
技術優(yōu)勢
天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、準確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設備。
全譜檢測測試各種金屬和元素
基于CMOS檢測器全譜測試技術，測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
國際供應商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除特殊維護，平時保養(yǎng)一般不需進行描跡。
同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉換性能的穩(wěn)定。
快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素
將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結果。
可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。
專業(yè)的測試方案
長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。
工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70%
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體
技術性能及指標
1. 分光室設計
帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm
波長范圍140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒溫33℃±0.2℃
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5%
2. 凹面光柵
刻線密度3600l/mm
光譜線色散率：1.04 nm/mm
3. 檢測器
高性能線陣CMOS
4. 分析時間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
5. 激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6. 激發(fā)臺
3mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
特殊設計的氣路系統(tǒng)，保證低氬氣消耗
7. 尺寸和重量
高450mm 長900mm 寬600 mm
120 kg
8. 功率
大功率1500W
待機功率70W
采購中心
