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Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)

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公司名稱廣州市固潤光電科技有限公司
品牌
型號(hào)DSP
所在地廣州市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/12/10 7:06:19
訪問次數(shù)12

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公司介紹主營產(chǎn)品

廣州市固潤光電科技有限公司是一家成立于2011年從事光電子高科技產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)及銷售的企業(yè)，2017年通過，主要面向國內(nèi)外光電子企業(yè)以及國內(nèi)各高校、科研院所提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和專業(yè)的項(xiàng)目服務(wù)。產(chǎn)品種類涉及各種工業(yè)和通信光電子器件，顯示器亮度色度及均勻性測試儀，LED燈、室內(nèi)外照明測試儀器，JUST標(biāo)準(zhǔn)光源、燈箱，射頻測試儀，超快脈沖激光測試儀，半導(dǎo)體生產(chǎn)及檢測設(shè)備，主動(dòng)消磁設(shè)備，主/被動(dòng)隔振設(shè)備，太赫茲源，太赫茲光譜儀等。涉及工業(yè)自動(dòng)化，信息自動(dòng)化，光電子、光纖通訊、光纖傳感，工業(yè)激光、微電子和雷達(dá)與微波通信等領(lǐng)域。我司堅(jiān)持"誠信為本，創(chuàng)新為先"的企業(yè)精神，深化技術(shù)創(chuàng)新，不斷超越，注重團(tuán)隊(duì)建設(shè)，努力把公司建設(shè)成為國際的光電子產(chǎn)品提供企業(yè)。固潤光電以技術(shù)為軸心導(dǎo)向，通過與國內(nèi)外廠商合作，積極開拓光電子領(lǐng)域市場，已經(jīng)取得廣大客戶的充分認(rèn)可。我司有一支以碩士為核心的研發(fā)隊(duì)伍，引進(jìn)、改造的技術(shù)，為國內(nèi)的企業(yè)與科研單位提供國際技術(shù)的“固潤”方案。自成立以來，我司已取得了多項(xiàng)，我司緊緊依靠科技創(chuàng)新、自主研發(fā)、技術(shù)進(jìn)步推動(dòng)企業(yè)可持續(xù)發(fā)展，不斷提升產(chǎn)品的科技含量、附加值和。我司設(shè)置有專門的產(chǎn)品技術(shù)研究中心，擁有一支高素質(zhì)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)以及*的儀器設(shè)備，保持對(duì)行業(yè)產(chǎn)品的高度敏銳度和觀察力，穩(wěn)步推進(jìn)光電產(chǎn)品的開發(fā)創(chuàng)新，不斷提升企業(yè)的核心競爭力和持續(xù)發(fā)展的能力。我司將更加重視技術(shù)創(chuàng)新，服務(wù)創(chuàng)新、管理創(chuàng)新，依靠、規(guī)范經(jīng)營、科學(xué)化管理提高企業(yè)抗風(fēng)險(xiǎn)能力，從而進(jìn)一步提升企業(yè)市場核心競爭力，打造固潤新輝煌。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

雙面探針系統(tǒng)基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)制造，提供了的靈活性和強(qiáng)大功能。DSP解決方案可滿足探針從兩側(cè)；探針從頂部，檢測輸出從底部；探針從底部，檢測輸出從頂部的雙側(cè)測試需求。與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同，該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動(dòng)、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級(jí)的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供的解決方案。的模......

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 產(chǎn)品信息

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)產(chǎn)品描述：

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)制造，提供了的靈活性和強(qiáng)大功能。目前，越來越多的應(yīng)用要求能夠從模具或晶片的兩面進(jìn)行探測。SemiProbe的DSP解決方案可滿足以下需求：

探針從兩側(cè)
探針從頂部，檢測輸出從底部
探針從底部，檢測輸出從頂部的雙側(cè)測試需求。

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同，該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動(dòng)、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級(jí)的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供的解決方案。的模塊化設(shè)計(jì)使客戶能夠獲得精確滿足其要求的定制系統(tǒng)。更重要的是，隨著環(huán)境或測試條件的變化，PS4L探針系統(tǒng)可以很容易地進(jìn)行現(xiàn)場升級(jí)，以滿足新的需求。與傳統(tǒng)檢測設(shè)備相比，能夠讓客戶節(jié)約更多時(shí)間，更多成本。

雙面探針系統(tǒng)（DSP）的發(fā)展：

雙面探針系統(tǒng)（DSP）最初是用于兩個(gè)應(yīng)用：失效分析和離散設(shè)備。失效分析（FA）的應(yīng)用涉及到發(fā)射顯微鏡，它需要接觸晶圓的頂部或活動(dòng)面，同時(shí)使用增強(qiáng)型或紅外相機(jī)從另一側(cè)成像。晶圓片安裝時(shí)通常背面朝上朝向發(fā)射相機(jī)，而上部朝下。這簡化了查找故障位置和確定故障根本原因的過程。包括SemiProbe在內(nèi)的一些公司都有這種應(yīng)用的解決方案。根據(jù)發(fā)射顯微鏡的類型和制造商，探測的一面可以是頂面或底面。

第二種類型的DSP系統(tǒng)用于探測分立大功率器件，包括晶閘管、二極管、整流器、電壓抑制器、功率晶體管和/或IGBT。由于測試這些設(shè)備所用的功率，通過偏置卡盤進(jìn)行普通背面接觸是無法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果的。通過單獨(dú)接觸DUT（被測設(shè)備）的背面，可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。此外，由于這些測試中所使用的功率，通常需要多個(gè)探頭。

隨著半導(dǎo)體行業(yè)不斷努力在降低成本的同時(shí)提高設(shè)備的性能，新技術(shù)正在成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的主流，這些新技術(shù)需要DSP解決方案——MEMS、光電子、硅通孔等等。另一個(gè)新興的DSP應(yīng)用涉及在晶圓上方或下方安裝太陽模擬器頭，以刺激另一面偏壓的裝置。在設(shè)計(jì)工作和表征方面，SemiProbe已開創(chuàng)了一些創(chuàng)新的DSP解決方案來探測這些設(shè)備。