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芯片老化測試Small Burn-in Test system

參考價 11111
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/11/26 16:47:36
  • 訪問次數(shù)134
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成都中冷低溫科技有限公司簡稱中冷公司(CHINACRYO)是一家專注于超低溫解決方案的創(chuàng)新型高科技公司,企業(yè)通過*、歐盟CE認證。公司主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀(熱流儀)、超低溫制冷機、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、環(huán)境模擬倉、老化測試設備等,各種為5G通訊、光模塊、集成電路、芯片、航空航天、天文探測、電池包、氫能源等領域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案,位于成都總部的技術中心超過3000平方米,在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、珠海、重慶設有辦事機構(gòu)。公司核心技術團隊成員平均行業(yè)經(jīng)驗超過12年,超過40%的工程師擁有高級職稱,擁有外國企業(yè)工作經(jīng)驗工程師超過30%。公司自主研發(fā)的高低溫沖擊氣流儀(熱流儀)和超低溫制冷機具有優(yōu)勢地位,出口歐美及東南亞,在業(yè)內(nèi)有較高的認可度。

低溫冷阱機,超低溫制冷機,水汽捕集深冷泵,冷熱沖擊機,高低溫循環(huán)沖擊機,熱流儀
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品大小 中型
產(chǎn)品新舊 全新 結(jié)構(gòu)類型 立式
芯片老化測試Small Burn-in Test system,高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實時測試,免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。
芯片老化測試Small Burn-in Test system 產(chǎn)品信息

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芯片老化測試Small Burn-in Test system

高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實時測試,免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。


芯片老化測試Small Burn-in Test system

◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據(jù)設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷,能有效降低 工作負荷更加節(jié)能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測試艙溫度,或按一定比率 步進設置溫度變化及溫度循環(huán)

◆ 器件測試:多工位被測器件可單步測試也可以連續(xù)測試

◆ 接口控制:測試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控



◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據(jù)設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷,能有效降低 工作負荷更加節(jié)能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測試艙溫度,或按一定比率 步進設置溫度變化及溫度循環(huán)

◆ 器件測試:多工位被測器件可單步測試也可以連續(xù)測試

◆ 接口控制:測試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控


◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據(jù)設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷,能有效降低 工作負荷更加節(jié)能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測試艙溫度,或按一定比率 步進設置溫度變化及溫度循環(huán)

◆ 器件測試:多工位被測器件可單步測試也可以連續(xù)測試

◆ 接口控制:測試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控



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