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飛納電鏡物相分析軟件

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公司名稱復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
品牌Phenom 飛納電鏡
型號(hào)ChemiPhase
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/10/28 16:26:39
訪問次數(shù)476

產(chǎn)品標(biāo)簽:

物相分析軟件物相分析金屬和礦物研究

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復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司，2012 年創(chuàng)立于上海，為高校，企業(yè)和研究所提供臺(tái)式掃描電子顯微鏡，及與臺(tái)式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測試服務(wù)。復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司成立以來，一直專注顯微技術(shù)，致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn)，在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。

2017 年起，復(fù)納與荷蘭 Sioux 集團(tuán)（ASML 光刻機(jī)研發(fā)供應(yīng)商）合作開發(fā)基于分析儀器的數(shù)字化應(yīng)用解決方案；2018 年，復(fù)納引入并組建以 VSParticle 納米粒子發(fā)生器、ForgeNano 原子層沉積系統(tǒng)（美國）為主要產(chǎn)品的納米部門。復(fù)納又陸續(xù)引進(jìn)海外優(yōu)質(zhì)高科技設(shè)備：Technoorg Linda 離子研磨儀、DENSsolutions 原位透射樣品桿、NEOSCAN 臺(tái)式顯微 CT 到中國，旨在提高分析結(jié)果準(zhǔn)確性，提升儀器使用效率，節(jié)省人力成本。

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掃描電鏡，電子顯微鏡，細(xì)胞成像分析

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適用金屬和礦物研究—ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件
更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析

飛納電鏡物相分析軟件產(chǎn)品信息

適用金屬和礦物研究—ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件

更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析

對于金屬合金和礦物分析領(lǐng)域的研究人員來說，物相分析非常重要，物相分析通?？梢越柚鷴呙桦婄R背散射電子信號(hào)成像（BSE）和能譜（EDS 成分分析）來進(jìn)行判定。掃描電鏡背散射電子成像（BSE）信號(hào)強(qiáng)度隨原子量而變化，可以通過成分襯度尋找異質(zhì)材料。但是，如果材料具有相似的原子量或材料的化學(xué)性質(zhì)過于復(fù)雜，則 BSE 對比度可能會(huì)很差，從而導(dǎo)致不完整的表征結(jié)果，甚至可能出現(xiàn)錯(cuò)誤結(jié)論

ChemiPhase 飛納電鏡物相分析軟件可幫助我們輕松找到問題答案，并且給出以下信息：成分是什么，它是如何分布的，以及每個(gè)相有多少。飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是 ChemiSEM 技術(shù)中一種新型物相鑒定和定量表征手段，旨在通過結(jié)合先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平臺(tái)來識(shí)別物相，并識(shí)別成分列出其面積分?jǐn)?shù)，從而應(yīng)對這些挑戰(zhàn)

什么是 ChemiPhase 物相分析軟件

飛納電鏡 ChemiSEM 軟件使用大數(shù)據(jù)方法來采集樣品的立體數(shù)據(jù)，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出具有統(tǒng)計(jì)意義的物相。然后，飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件為每個(gè)像素提供一個(gè)簡單的概率，指示它歸屬于哪個(gè)相。因?yàn)槊總€(gè)像素只能屬于一個(gè)相，這使得復(fù)雜樣品的解釋更加直接并且直觀。值得注意的是，飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是一個(gè)全面、準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)軟件，可以解決傳統(tǒng)方法的難題。傳統(tǒng)方法如果遺漏了元素（即，由于重疊的峰或強(qiáng)度不足），可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié) 果。此外，傳統(tǒng)的物相測定高度依賴于對樣品的假設(shè)，而 ChemiPhase 物相分析軟件可確保所有用戶都能獲得相同的結(jié)果，即使是具有挑戰(zhàn)性的樣品也是如此。

ChemiPhase 物相分析軟件優(yōu)勢軟件優(yōu)勢不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成大多數(shù)采集，即使是復(fù)雜的相圖也是如此全自動(dòng)運(yùn)行，無需事先識(shí)別元素明確識(shí)別主要和次要組件，精確到單個(gè)像素無需豐富的用戶體驗(yàn)即可定位微量和微量元素提供完整而全面的分析定位峰重疊會(huì)掩蓋重要元素的組分可以使用非常少的 X 射線數(shù)據(jù)開始相位測定，每個(gè)像素低至 10 個(gè)計(jì)數(shù)。