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太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海蔡康光學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2024/9/8 7:55:56
  • 訪問次數(shù)135
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海蔡康光學(xué)儀器有限公司以振興民族光電產(chǎn)業(yè)為己任,致力于*的精密光電轉(zhuǎn)換技術(shù)和計算機數(shù)字 圖象處理技術(shù)的研發(fā),從事光、機、電一體化的精密光學(xué)儀器和精密機械設(shè)備的生產(chǎn)和銷售。 公司產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于機械、電子、冶金、地礦、化工、紡織、生物、農(nóng)業(yè)、安防等專業(yè)領(lǐng)域,涵蓋企業(yè)、 教育、衛(wèi)生、國防等部門及各大專院校 、科研單位。主要產(chǎn)品如下:金相顯微鏡、體視顯微鏡、偏光顯微鏡、 視頻顯微鏡、生物顯微鏡、工具顯微鏡、光學(xué)投影儀、測量顯微鏡、讀數(shù)顯微鏡、測量投影儀、影像測量儀、 檢測顯微鏡、偏光熔點測定儀、生物顯微鏡加熱臺、光切法顯微鏡、干涉顯微鏡、立式光學(xué)計、透鏡中心儀、 阿貝折射儀、金相設(shè)備、平行光管、激光平面干涉儀、硬度計、比較測角儀等各種光學(xué)儀器和光學(xué)儀器配件、 物理儀器、測繪儀器、量具量儀以及計算機數(shù)字圖像處理軟件和顯微鏡測量軟件等。 公司立足國內(nèi),放眼。在光學(xué)儀器行業(yè)做到專家指導(dǎo) 專業(yè)研發(fā) 專精生產(chǎn) 專心服務(wù);企業(yè)重視過程控 制、持續(xù)質(zhì)量改進(jìn)、加速技術(shù)進(jìn)步、增強客戶滿意。確保研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)全過程質(zhì)量穩(wěn)定可靠???根據(jù)不同用戶的需要提供光學(xué)領(lǐng)域技術(shù)咨詢、產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)、應(yīng)用解決方案、產(chǎn)品選型等技術(shù)服務(wù)。 作為研制、生產(chǎn)精密光學(xué)儀器的企業(yè),我們崇尚"誠信 專業(yè) 服務(wù)"的企業(yè)理念;樹立"做*企業(yè) 創(chuàng)知 名品牌"的發(fā)展目標(biāo);貫徹"以市場為導(dǎo)向 以技術(shù)為基礎(chǔ) 以服務(wù)為根本"的經(jīng)營理念;實現(xiàn)"讓用戶滿意"的 服務(wù)宗旨;履行"*合格出品 精益求精周到服務(wù)"的服務(wù)承諾.
金相顯微鏡,偏光顯微鏡,熒光顯微鏡
DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡,選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件,配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡,是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為工業(yè)金相顯微鏡使用。
太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C 產(chǎn)品信息

陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途:
DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡,選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件,配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡,是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用??蛇M(jìn)行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數(shù)字?jǐn)z像頭及圖像測量管理軟件,可對太陽能電池板圖像進(jìn)行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。

性能特點:

1、采用了較的光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測量技術(shù)。

2、可對太陽能電池硅片進(jìn)行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。

3、系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡

4、可以測量太陽能電池片裂紋長度,崩邊長度角度,印刷位移角度偏差

5、可以測量主、副柵線,背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線

到電池邊的距離,柵線、斷線長度,斷線缺損和變色的面積

6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑,裂紋,崩邊,掉

角缺口,印刷偏移主副柵線、背電極的斷線,缺損,扭曲,變色等現(xiàn)象。

7、可對雜質(zhì)、殘留物成分進(jìn)行分析。雜質(zhì)包括: 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜

質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等。





。

二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術(shù)參數(shù):

型號

技術(shù)規(guī)格

目鏡筒

鉸鏈?zhǔn)饺跨R,傾斜30?,內(nèi)置檢偏振片,可進(jìn)行切換 ;瞳距調(diào)節(jié)范圍 55-75mm,屈光度±5可調(diào)。

目鏡

WF10X(Φ22mm)

物鏡

無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL 5X/0.12 工作距離:26.3mm

無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25 工作距離:20.2mm

無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L40X/0.60(彈簧) 工作距離:3.98 mm

無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L60X/0.70(彈簧) 工作距離:3.18 mm

無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L100X/0.85(彈簧) 工作距離:0.40 mm

落射照明系統(tǒng)

6V 30W鹵素?zé)?亮度可調(diào)

落射照明器帶 (黃,藍(lán),綠)濾色片和磨砂玻璃

視場光欄和孔徑光欄大小可調(diào)節(jié),可插入式起偏振片,可進(jìn)行偏光觀察和攝影

透射照明系統(tǒng)

阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降 。藍(lán)濾色片和磨砂玻璃

集光器,鹵素?zé)粽彰鬟m用(內(nèi)置視場光欄) ,6V 30W 鹵素?zé)?亮度可調(diào)

調(diào)焦機構(gòu)

粗微動同軸調(diào)焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

轉(zhuǎn)換器

五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)

載物臺

雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)

電腦攝像系統(tǒng)

1X攝影接口,標(biāo)準(zhǔn)C接口,

CK-500數(shù)字?jǐn)z像系統(tǒng),分辨率:2592X1944, 芯片尺寸:1/2.5", USB2.0連接, 圖像質(zhì)量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩(wěn)定,有多種圖像處理方式(詳細(xì)參數(shù)見CK-500攝像機介紹)

測量軟件功能:

1、可進(jìn)行圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB顏色等多種處理方法。

2、當(dāng)前圖像放大、縮小、剪切、背景等設(shè)置。

3、對圖像中的點、線、圓、圓弧、角度、矩形及任何圖形幾何參數(shù)的測量。測量工具使用方便直觀。是顯微圖像測量與分析的有效工具。


三、系統(tǒng)的組成


1、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300 2、電腦適配鏡 

3、彩色數(shù)字?jǐn)z像機CK-500   4、計算機(選購)

關(guān)鍵詞:顯微鏡 金相顯微鏡
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