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半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機
HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。 隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也 相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用的壓力蒸煮鍋試驗方法。
HAST高壓加速老化試驗箱HAST老化測試儀Burn-in Oven主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到模具/裝置上。
半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合guo家安全容器規(guī)范；
多重保護(hù)功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護(hù)；
穩(wěn)定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩(wěn)定性；
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。
Burn-in system
HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven可根據(jù)客戶產(chǎn)品定制專用產(chǎn)品架
半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機
1. IEC60068-2-66
2. JESD22-A102-B
3. EIAJED4701
4. EIA/JESD22
5.GB/T 2423.40-1997
半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機
溫度范圍：+105℃~+150℃
主機尺寸：970MM*710MM*1700MM(W*D*H)
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~10 0% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內(nèi)桶材質(zhì)： SUS316#不銹鋼板
外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護(hù)： 超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，缺水保護(hù)等
水質(zhì)要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
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