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X射線熒光分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海鉑拓能源科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/12/28 13:48:54
  • 訪問(wèn)次數(shù)208
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上海鉑拓能源科技有限公司是一家專業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室設(shè)備解決方案、特殊工況用儀器儀表系統(tǒng)解決方案以及材料應(yīng)用的科技型企業(yè)。  特殊工況儀器儀表:公司目前針對(duì)糧儲(chǔ)、能源化工等行業(yè)提供復(fù)雜工況環(huán)境下用的測(cè)量?jī)x表及解決方案。如俄羅斯利馬克高頻雷達(dá)物位計(jì)、伊科菲斯環(huán)保電離輻射料位計(jì)和密度計(jì)、申鑠超聲波在線濃度儀等??稍诟邷亍⒊邏毫?測(cè)量介質(zhì)溫度:2000℃,60bar)、高粉塵、高腐蝕、易結(jié)晶、蒸汽、超低介電常數(shù) (介電常數(shù)1.2-1.4下依然非常精準(zhǔn))等介質(zhì)工況下使用。目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于糧油儲(chǔ)倉(cāng)、石化、鋼鐵冶金、電廠、水泥等行業(yè)儲(chǔ)罐物位、介質(zhì)密度及濃度的在線測(cè)量。  實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)建設(shè):專業(yè)的化工、材料、環(huán)保技術(shù)團(tuán)隊(duì),可以為研究單位定制實(shí)驗(yàn)裝置,目前已經(jīng)與中科院硅酸鹽研究所、中科院高等院、航天811所、上海交通大學(xué)、上海大學(xué)、上海理工大學(xué)、同濟(jì)大學(xué)等高??蒲性核㈨?xiàng)目合作。代理進(jìn)口實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,如日本Nanovater納米分散設(shè)備、德國(guó)納博熱高溫爐、瑞士萬(wàn)通電化學(xué)工作站水分儀和電位滴定儀、安捷倫氣相色譜儀和氣質(zhì)聯(lián)用儀、PE珀金埃爾默ICP、麥克比表面儀、HORIBA激光散射粒徑分布分析儀、掃描電鏡、透射電鏡、哈希濁度儀、梅特勒天平及水分儀、英國(guó)科爾康氣體檢測(cè)儀、日本理研軟磁交直儀、MATS磁性材料測(cè)量系統(tǒng)、合肥科晶以及國(guó)外品牌的鋰電池及燃料電池相關(guān)實(shí)驗(yàn)室設(shè)備等。   材料:碳材料;針對(duì)新能源汽車行業(yè)電池包熱管理的需求,提供定制化隔熱防火材料及熱管理解決方案;提供電子元器件高熱傳導(dǎo)氮化硅基板及金屬陶瓷復(fù)合材料。
氣體密度計(jì)
X射線熒光分析儀XGT X射線分析顯微鏡是能量色散型X射線熒光分析儀,可以快速、無(wú)損地分析待測(cè)樣品的元素組成。不僅可以分析10 μm的微小區(qū)域;還可以自動(dòng)掃描樣品,掃描區(qū)域可達(dá)10cm X 10cm。 沒(méi)有什么技術(shù)可以如此簡(jiǎn)單的獲得如此多的信息。僅僅需要點(diǎn)擊感興趣區(qū)域,就可以開(kāi)始測(cè)量。并可以獲得光學(xué)圖像和元素面分布圖的結(jié)合的測(cè)量結(jié)果。
X射線熒光分析儀 產(chǎn)品信息
  • 概要

           一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析地結(jié)合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。

           SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計(jì)數(shù)率的測(cè)量,且無(wú)需液氮。

           雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。

           的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線導(dǎo)管在10 µm和1.2 mm間切換,以保證獲得測(cè)量條件,無(wú)論是微觀到宏觀。

           與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī),可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。

    單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析

             單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無(wú)論是從單個(gè)分析位置或是用戶定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。

             可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線法定量計(jì)算,可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或µm級(jí)樣品的多層膜厚。

    高光譜面掃描

             SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后,用戶可以根據(jù)自己的分析,添加或刪除某個(gè)元素面分布圖,實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。

             X射線透射圖像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造,實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損內(nèi)部觀測(cè)。

    特征

            有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用:電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。

            XGT-7200的靈活設(shè)計(jì),保證用戶通過(guò)簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果,無(wú)論是分析大區(qū)域,還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析,或是同時(shí)采集X射線熒光圖像和X射線透過(guò)像。

    • 的空間分辨率

            HORIBA的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析,X射線光斑直徑小到10微米。這種強(qiáng)度的超細(xì)光斑,可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。

                   

    • X射線透過(guò)像

            同時(shí)采集XRF圖像和X射線透過(guò)像的功能,可以用來(lái)分析無(wú)法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線束,即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。

                   

    •  雙真空模式

             的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。

      • 全真空模式,整個(gè)樣品室處于真空氛圍以保證輕元素分析的高靈敏度。
      • 局部真空模式,樣品處于大氣氛圍中,適宜于含水樣品的分析,如生物組織、文物碎片和館藏文物等。

                        

    • 完整地分析整個(gè)樣品
    • 整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件

            界面友好的操作軟件允許用戶方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括:自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成,線分析等。

                     

            大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能,用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。

關(guān)鍵詞:顯微鏡 CCD相機(jī)
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