HOMMEL T8000SC 粗糙輪廓度綜合測量儀

用途

霍梅爾T8000SC粗糙輪廓度綜合測量儀配置了分辨率的探測系統(tǒng)，同時測定粗糙度和輪廓。幾何參數(shù)以及粗糙度特征數(shù)據(jù)在一個流程中的評價。此測量系統(tǒng)性價比良好，具備的測量功能和能力可以和復(fù)雜的實驗室測量系統(tǒng)媲美。

技術(shù)特點

?分辨率出色，6mm測量范圍的分辨率是6nm；

?僅在一個測量范圍內(nèi)便具備完整的分辨率；

?測量力可調(diào)；

?測頭電動抬起/下降，所以測量流程自動；

?模塊化結(jié)構(gòu)，可拓展。

主要特點

?粗糙度測量和輪廓共用一個探測系統(tǒng)；

?測量斜面和曲面的粗糙度；

?由于測量范圍大，所以測量系統(tǒng)不再需要相對工件表面定位；

?磁性測頭臂支架，測頭臂更換迅速可靠；

?用于評價粗糙度和輪廓特征的軟件功能廣泛。

針對不同測量任務(wù)，磁性測頭臂支架保證了測頭臂的更換迅速、簡單、可靠。

配置了wavecontour™surfscan 探測系統(tǒng)的粗糙度輪廓綜合測量儀正在測量滾珠絲桿。

選項

?通過電動傾斜單元和CNC軟件實現(xiàn)完整的CNC功能；

?用于特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂；

?經(jīng)過認(rèn)證的qs-STAT接口（AQDEF）；

?輪廓標(biāo)準(zhǔn)塊KN8；

?wavecontrol™操作面板；

?儀器臺GTR。

供貨范圍

?帶19'TFT顯示屏的評價電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價軟件；

?具有自動保存功能的PDF打印機(jī)；

?帶自動探測功能的電動測量立柱wavelift™400；

?帶增量值光柵尺的進(jìn)給裝置waveline™120advanced；

?進(jìn)給裝置的傾斜和緊固單元，回轉(zhuǎn)范圍±45°，精回轉(zhuǎn)范圍±5°；

?帶10mm T槽的硬巖石板；

?wavecontour™surfscan測頭，包含金剛石探測頭和紅寶石探頭的兩個測頭臂；

?粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊RNDH2；

?用于緊固工件的測量臺MT1 XYO；

?校準(zhǔn)用附件一套。

技術(shù)參數(shù)