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Zeta電位分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱珠海真理光學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地珠海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/1/28 10:08:35
  • 訪問次數(shù)389
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  珠海真理光學(xué)儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發(fā)和生產(chǎn),公司聚集了多位在顆粒學(xué)和粉體技術(shù)領(lǐng)域具有豐富經(jīng)驗(yàn)和工作成就的精英人才,其專業(yè)涵蓋顆粒表征技術(shù)的基礎(chǔ)理論研究、應(yīng)用技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品制造、技術(shù)支持和商業(yè)運(yùn)營(yíng)服務(wù)。 真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)具有超過二十年粒度表征行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗(yàn),參與了一臺(tái)商用激光粒度分析儀的研制。LT系列是真理光學(xué)基于多年的科研成果并融合多項(xiàng)技術(shù)開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng),為激光粒度分析行業(yè)樹立了新。LT系列粒度儀被廣泛用于磨料、制藥、化工、電池材料、地質(zhì)、水文等行業(yè)的顆粒粒度表征分析。Nanolink SZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng),采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析,被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。多年的科學(xué)研究和激光衍射技術(shù)創(chuàng)新成果,為測(cè)量和分析高速噴霧的粒度奠定了基礎(chǔ)。噴霧顆粒的高速運(yùn)動(dòng)、粒徑范圍寬及霧場(chǎng)的動(dòng)態(tài)變化,要求噴霧粒度分析系統(tǒng)具有高的適應(yīng)性和光散射信號(hào)的高速處理能力。Spraylink系列超高速實(shí)時(shí)噴霧粒度分析儀專為應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì),以實(shí)現(xiàn)對(duì)噴霧粒度進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。PATlink 1000系列是真理光學(xué)基于粒度表征技術(shù)及自動(dòng)化過程控制技術(shù)開發(fā)的新一代全實(shí)時(shí)在線粒度監(jiān)測(cè)與控制系統(tǒng),適合干法和濕法的生產(chǎn)工藝過程,既可用于在線粒度測(cè)量,也可以用于線上和現(xiàn)場(chǎng)的粒度分析。具有堅(jiān)固的架構(gòu)和*的技術(shù)支撐,可滿足苛刻及復(fù)雜的過程工藝環(huán)境。 從納米到微米,從固體顆粒到乳液、噴霧,從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)線上,真理光學(xué)始終致力于為客戶提供全面的顆粒表征儀器和應(yīng)用技術(shù)方案!
粒度分析儀
Zeta電位分析儀液體中懸浮的粒子很接近表面位置的靜電勢(shì)1
Zeta電位分析儀 產(chǎn)品信息

    Zeta電位分析儀液體中懸浮的粒子很接近表面位置的靜電勢(shì)1。Zeta電位(ζ)是由膠體中粒子與粒子間的相互作用造成的,因此它可以用來預(yù)測(cè)膠體體系里粒子聚集的穩(wěn)定性。圖1顯示了懸浮在液體中的粒子及其周圍的各種概念區(qū)域。Zeta電位指的是液體中滑動(dòng)面或者剪切面的電位。在這個(gè)滑動(dòng)平面內(nèi),當(dāng)液體在這個(gè)邊界外自由運(yùn)動(dòng)時(shí),它與粒子結(jié)合在一起。遠(yuǎn)離粒子的凈電勢(shì)(在液體中)為零。

    圖1懸浮在液體中的帶負(fù)電的粒子及其周圍的各種概念區(qū)域
 
    在水相介質(zhì)中,Zeta電位分析儀通常是由于粒子表面的離子離解而產(chǎn)生的,在表面附近留下一個(gè)被反離子云包圍的凈電荷。各種類型的離子可以通過滑動(dòng)面擴(kuò)散進(jìn)來和出去,滑動(dòng)面允許Zeta電位根據(jù)液體中的離子組成而變化,例如pH值。離子也可以通過參與滑動(dòng)面內(nèi)的化學(xué)反應(yīng),從而影響Zeta電位。樣品稀釋可以顯著地改變Zeta電位,因?yàn)殡x子可以吸附或者解析顆粒。因此,Zeta電位可以是正的或負(fù)的,也可以是零(等電點(diǎn),IEP),這取決于液體(溶劑)的pH值或離子的類型和濃度。
 
    珠海真理光學(xué)NanolinkS900是基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng),被廣泛應(yīng)用于有機(jī)及無機(jī)顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質(zhì)樣樣品的顆粒表征。除了具備顆粒表征功能外,還能測(cè)量膠體的Zeta電位。

測(cè)量原理

動(dòng)態(tài)光散射

粒徑范圍

0.3nm-15μm*

準(zhǔn)確度

優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標(biāo)樣)

重復(fù)性

優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標(biāo)樣)

最小樣品濃度

0.1mg/ml*

最小樣品量

3μl*

測(cè)量角度

經(jīng)典90

溫度控制范圍

0-90℃ (120℃選配)

溫度控制精度

±0.1

冷凝控制

干燥氣體吹掃

激光器

532nm固體激光器,功率50mW, 激光輸出自動(dòng)可調(diào)

激光安全等級(jí)

1

相關(guān)器

最小采樣時(shí)間25ns, 動(dòng)態(tài)范圍>1011

檢測(cè)器

高靈敏度極低暗電流PMT APD可選)

 

計(jì)算機(jī)配置

Intel i5處理器,4GB內(nèi)存,250GB硬盤及顯示器,鼠標(biāo)和鍵盤

計(jì)算機(jī)接口

USB 2.0 或以上

操作系統(tǒng)

Windows 7 或以上專業(yè)版

操作環(huán)境溫度

5-40

操作環(huán)境濕度

10%-85%相對(duì)濕度(無結(jié)凝)

電源要求

交流220V, 50/60Hz,標(biāo)準(zhǔn)接地

 

重量

25kg

尺寸

578mm x 397mm x 248mm(LxWxH)

注:取決于樣品及樣品池選件

 

關(guān)鍵詞:表面活性劑
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