半導體快速恒溫恒濕箱用于電工、電子產品、元器件、零部件及其材料進行高溫、低溫、或高低溫漸變的試驗,還可以對電子元器件及產品進行應力篩選試驗;適用于:電工、電子產品、元器件等。
半導體快速恒溫恒濕箱技術參數:
內箱容積有:810升、100升、50升、 225升、416升、800升、1000升(還可以定制非標尺寸及升降溫速度)
溫變率:有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min (有線性或非線性可選擇)
溫度范圍:-40℃~+150℃(溫變范圍-40~+20℃)
濕度范圍:20 %~98 % RH(分布范圍如下圖,滿足一般型)注:滿足做25℃,20%濕度的低濕條件
溫度波動度:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃
工作噪音:A聲級≤75dB(A) (在環(huán)境溫度25℃,回聲少的隔音室內測得;采用A計權,測試8個點的平均值;各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)。
其他:增加三路溫度探頭,實時采集產品溫度
測試環(huán)境條件:機器周圍環(huán)境溫度維持在+5~+30℃之間,相對濕度:≤85%;氣壓:86kPa~106kPa正常大氣壓力。
滿足標準:·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件;·GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件;·GB2423.1-2008低溫試驗Aa , Ab;·MIL-STD810D方法502.2;·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3;·GJB 150.9-8溫熱試驗