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交變高低溫試驗(yàn)房

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱東莞市愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)AP-KF-8
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2022/10/20 19:50:15
  • 訪問(wèn)次數(shù)692
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東莞市愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司主要生產(chǎn)與售的產(chǎn)品有:交變濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱、紫外光試驗(yàn)箱、氙燈老化箱恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室、沙塵試驗(yàn)箱淋雨試驗(yàn)箱、鹽水噴霧試驗(yàn)箱各種振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、拉力試驗(yàn)機(jī)、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、按健壽命試驗(yàn)機(jī)紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、工業(yè)烘烤箱等模擬環(huán)境檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備系列產(chǎn)品。本公司引進(jìn)國(guó)外的*技術(shù)和工藝,在國(guó)內(nèi)外同行業(yè)中處于 ,并在電子儀表、化工、通訊、光電、電子、半導(dǎo)體、實(shí)驗(yàn)室等工業(yè)域具有廣泛的應(yīng)用市場(chǎng)。




恒溫恒濕箱、高低溫箱、紫外老化箱、冷熱沖擊箱
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
自動(dòng)化程度 半自動(dòng)
交變高低溫試驗(yàn)房可提供高溫、惡劣的環(huán)境供各類成品或半成品測(cè)試,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要試驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要測(cè)試設(shè)備,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、電池等領(lǐng)域。
交變高低溫試驗(yàn)房 產(chǎn)品信息

交變高低溫試驗(yàn)房可提供高溫、惡劣的環(huán)境供各類成品或半成品測(cè)試,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要試驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要測(cè)試設(shè)備,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、電池等領(lǐng)域。

交變高低溫試驗(yàn)房技術(shù)參數(shù):

1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積,更大或者更小的均可來(lái)電定制)

2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸:以客戶的測(cè)試件所需尺寸或場(chǎng)地等需求定制*合理的內(nèi)外尺寸,建議雙方電談或者面談了解清楚實(shí)際需求再確定具體所需尺寸,能有效節(jié)約成本及滿足實(shí)際需要。

3、溫度范圍:RT~85 ℃或更高請(qǐng)致電說(shuō)明。

4、(單/雙)開(kāi)門(mén)選擇,如雙:W(800+800)mm×H1900mmW;( 可依客戶要求選擇或定制)

5、滿足標(biāo)準(zhǔn):GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb、GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)。

6、工作噪音:A聲級(jí)≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得;采用A計(jì)權(quán),測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值;各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)

7、溫度波動(dòng):溫度:≤±0.5℃  (指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差)

8、溫度均勻度:溫度:≤2.0℃(均勻度為每次空載測(cè)試中實(shí)測(cè)*高溫度和*低溫度之差的算術(shù)平均值)

9、溫度升溫時(shí)間:約40min

10、電源:AC380V,三相四線+保護(hù)地線。

符合標(biāo)準(zhǔn):

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)

GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求。

關(guān)鍵詞:控制器
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