現(xiàn)代科學和材料工業(yè)的一大難題是如何實現(xiàn)在納米級別分辨率下對樣品進行無損的成分分析和鑒別。已有的一些高分辨成像技術(shù),如電鏡或掃描探針顯微鏡等,在一定程度上可以解決該問題,但是這些技術(shù)本身的識別能力太低,無法滿足樣品成分分析的要求;另一方面,紅外光譜具有很高的材料成分分析能力,但是其空間分辨率卻由于受到光的波長衍射極限限制,只能達到um級別,因此也無法進行納米級別的研究?,F(xiàn)在,瑞宇科技推出的納米紅外光譜成像顯微鏡,利用基于原子力顯微鏡的*技術(shù)(AFM-IR),這一技術(shù)將原子力顯微鏡的高空間分辨率、納米級定位和成像功能與紅外光譜的高化學敏感度有機地結(jié)合到一臺設(shè)備中,很好的解決了這一難題。
這款納米紅外光譜成像顯微鏡,是一款功能強大的材料表征分析工具,使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限,能夠達到10nm級別,從而在利用原子力顯微鏡(AFM)獲得微區(qū)形貌和表面物理特征的基礎(chǔ)上,進一步幫助用戶全面解析樣品表面納米級別的化學信息,開創(chuàng)了納米紅外化學解析采集時間:1~60秒
空間分辨率:10nm
工作模式:接觸模式、非接觸模式、敲擊模式
應(yīng)用:
有機物及生物材料研究
聚合物多相分離研究
界面微區(qū)化學研究
晶體生長機理研究
催化劑研發(fā)
有機太陽能電池研發(fā)