納米粒度分析儀
納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍: 3-3,000nm
2.測(cè)量時(shí)間:30-180秒
3.重現(xiàn)性: 優(yōu)于3%CV
4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
5.精度: 2-5%
主要特點(diǎn)
1.是采用六個(gè)角度(在0-900C角度范圍)檢測(cè)的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類(lèi)型
Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)
1、粒徑測(cè)量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測(cè)角度: 175o 和 12.8o
最小樣品量: 12 μl
2、Zeta電位測(cè)量
Zeta電位范圍: 無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無(wú)實(shí)際上限
樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
樣品濃度: 40% w/v
最小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *
3、分子量測(cè)量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動(dòng)態(tài)光散射)
980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
最小樣品量 12 μl
* 取決于樣品