符合標(biāo)準(zhǔn):
美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01),美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046),美標(biāo)MIL-B-81705C,美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D,中國GB19082,中標(biāo)GJB2625
適用范圍:
潔凈服靜電衰減測試儀/防護(hù)服抗靜電檢測儀可用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備,依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測和監(jiān)測。
產(chǎn)品詳細(xì):
406D靜電衰減測試儀采用直流充電法,是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)、美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國GB19082,中標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試;金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上,還可以測試粉體和液體靜電衰減時間。
配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試,法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置,打開法拉第籠時,高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個標(biāo)準(zhǔn)的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下,放置在806B無損電極上后,可以直接測試粉體、液體和固體試樣。