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當前位置:濟南蘭光機電技術(shù)有限公司>>測厚儀>>材料厚度檢測儀>> 鋁箔測厚儀 鋁箔厚度測量儀 硅片厚度儀
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
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顯示方式 | 數(shù)顯 |
鋁箔測厚儀 鋁箔厚度測量儀 硅片厚度儀(型號CHY-C2A)采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
技術(shù)特征:
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
實時顯示測量結(jié)果的zui大值、zui小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定,保證測試的精度和數(shù)據(jù)*性
系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看
標準的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告
執(zhí)行標準:
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM/D374、 ASTM /D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
鋁箔測厚儀 鋁箔厚度測量儀 硅片厚度儀(型號CHY-C2A)技術(shù)指標:
負荷量程:0 ~ 2 mm(常規(guī))
0 ~ 6 mm;12 mm (可選)
分辨率:0.1 μm
測量速度:10 次/min (可調(diào))
測量壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
電源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重:32kg
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