濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
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硅片測厚儀 銅箔測厚度儀 臺式膜厚測試儀

參  考  價:40000 - 70000 /把
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號

  • 品牌

    Labthink/蘭光

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    濟(jì)南市

更新時間:2023-11-24 15:27:30瀏覽次數(shù):10646次

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濟(jì)南蘭光

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
CHY-C2A硅片測厚儀 銅箔測厚度儀 臺式膜厚測試儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

CHY-C2A硅片測厚儀 銅箔測厚度儀 臺式膜厚測試儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。


技術(shù)特征:

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標(biāo)定制

測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇

實(shí)時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進(jìn)行判斷

配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時顯示、自動統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能,方便快捷地獲取測試結(jié)果

系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看

標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告


CHY-C2A硅片測厚儀 銅箔測厚度儀 臺式膜厚測試儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817


技術(shù)指標(biāo):

負(fù)荷量程:0~2mm(常規(guī));0~6mm;12mm(可選)

分辨率:0.1μm

測量速度:10 次/min(可調(diào))

測量壓力:17.5±1KPa(薄膜);50±1KPa(紙張)

接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)

注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制

電源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz

外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)

凈重:32kg


儀器配置:

標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選購件:專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)

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