用于半導(dǎo)體的 Helios G4 PFIB UXe DualBeam
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上海伯東英國 NanoMagnetics 儀器 HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng), 多樣品實(shí)驗(yàn), 非常適合材料研究等應(yīng)用.
1.多樣品實(shí)驗(yàn), van der Pauw 4接觸點(diǎn) ; Hall Bar 6接觸點(diǎn)
2.廣泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金屬氧化物和有機(jī)導(dǎo)體
3.非常適合于材料研究, 產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制
4.樣品電阻率, 電阻率, 霍爾系數(shù), 霍爾遷移率, 載流子濃度或電流電壓特性
5.Windows 操作系統(tǒng)用于系統(tǒng)操作, 數(shù)據(jù)采集和分析
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