詳細(xì)介紹
發(fā)光體,如白熾燈、熒光燈、LED 等輻射光譜及發(fā)光特性的測(cè)試,對(duì)研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測(cè)量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。
針對(duì)不同輻射光源的特性,可靈活選擇測(cè)試系統(tǒng),如:寬帶光源和LED 通常分辨率要求不高,建議使用SGM100 或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等分辨率要求高,建議使用長(zhǎng)焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;寬波長(zhǎng)范圍(UV ~ IR),建議采用雙出口單色儀接兩個(gè)探測(cè)器;測(cè)試寬光譜范圍的發(fā)光體,需要采用SD 濾光片輪消多級(jí)光譜。
發(fā)射光譜測(cè)量系統(tǒng)組成:分光系統(tǒng)+檢測(cè)系統(tǒng)+數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)+軟件系統(tǒng)+計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
OmniES-掃描型發(fā)射光譜測(cè)量系統(tǒng)
OmniES-攝譜型發(fā)射光譜測(cè)量系統(tǒng)