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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)ZJD-A
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-09-28 08:34:46瀏覽次數(shù)：103次
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ZJD系類高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、ZJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入ZJD-B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成
ZJD系類高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)
ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、ZJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入ZJD-B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用ZJD-B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。
ZJD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：
1. 主機(jī)：ZJD-B/C 高頻Q表
功能名稱： | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào) | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信號(hào)源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù) | 3×10-5 ±1個(gè)字 | 3×10-5 ±1個(gè)字 | 3×10-5 ±1個(gè)字 |
Q測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
Q測(cè)量工作誤差 | <5% | <5% | <5% |
電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測(cè)量誤差 | <5% | <5% | <5% |
調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF |
電容直接測(cè)量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
調(diào)諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 | 自動(dòng)掃描 | 自動(dòng)掃描 |
Q合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動(dòng)/手動(dòng) | 自動(dòng)/手動(dòng) | 自動(dòng)/手動(dòng) |
LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測(cè)試引線電感的 | 有 | 有 | 有 |
大電容值直接測(cè)量顯示功能() | 測(cè)量值可達(dá)2.5uF | 測(cè)量值可達(dá)2.5uF | 測(cè)量值可達(dá)25nF |
介質(zhì)損耗系數(shù) | 精度 萬(wàn)分之五 | 精度 萬(wàn)分之五 | 精度 萬(wàn)分之五 |
2. S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
固體：材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）
液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
3. LKI-1電感組
電感No | 電感量 | 準(zhǔn)確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測(cè)試頻率 | |
ZJD-B | ZJC-C | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
注意: 可定制100MHz電感.
附件 在高溫下測(cè)試介電常數(shù)
在高溫下測(cè)試材料的介電常數(shù)需要有高溫測(cè)試平臺(tái),以及特殊的耐高溫測(cè)試夾具.再配合上Q表主機(jī),以完成在高溫下測(cè)試材料的介電常數(shù).
測(cè)試方法:把材料放在測(cè)試夾具的極片內(nèi)上下夾住,然后把測(cè)試夾具放在高溫測(cè)試平臺(tái)內(nèi),通過(guò)引線連接測(cè)試夾具的信號(hào)輸出段與Q表主機(jī)的電容接線柱.以此使Q表諧振,等到數(shù)據(jù).
一 高溫測(cè)試平臺(tái)參數(shù)
帶升降高溫測(cè)試平臺(tái)是為高溫材料電性能測(cè)試專門設(shè)計(jì)的高溫環(huán)境。包括高溫實(shí)驗(yàn)電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。
溫度范圍 RT1000℃ (根據(jù)不同型號(hào),溫度不同)
探針數(shù)量 4
控溫方式恒溫、變溫、
頻率范圍DC~50MHz
二 高溫測(cè)試夾具參數(shù)
精密高溫介電夾具是嚴(yán)格依據(jù)A S T M 1 5 0標(biāo)準(zhǔn)要求， 并針對(duì)高溫環(huán)境進(jìn)行設(shè)計(jì)， 用于精確測(cè)量材料的介電性能。由上電極調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)支撐架、樣品平臺(tái)、隔熱層、接線盒組成
溫度范圍 RT~600℃~1000℃(根據(jù)不同型號(hào),溫度不同)
校準(zhǔn)頻率 DC~30MHz
測(cè)試電極 2個(gè)測(cè)試電極+保護(hù)電極
電極直徑 26.8mm
樣品大小 厚度小于10 mm，直徑5~40mm
終端連接 4*SMA母頭
微調(diào)行程 10mm
外形尺寸 W180mm*H270mm*D300mm
重 量 4KG
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