華測(cè)絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)

絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

高精測(cè)量

連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x表，與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。

應(yīng)力電壓范圍廣泛

標(biāo)配100V應(yīng)力電壓（應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓），更有300V、500V高電壓規(guī)格備選。

連續(xù)通電掃描方式

具有掃描動(dòng)作技術(shù)，切換掃描時(shí)不發(fā)生無(wú)電壓狀態(tài)，測(cè)量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制，可準(zhǔn)確控制電壓。

漏電流檢測(cè)功能

高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

統(tǒng)計(jì)軟件

可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。

連接樣件夾具

選配可使連接樣品及線纜更方便，試驗(yàn)效率更高。

公司主營(yíng)產(chǎn)品：

     幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。