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球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

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更新時(shí)間:2024-04-26 15:49:35瀏覽次數(shù):198

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專(zhuān)用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時(shí),探針電流提高了10倍。最近,該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)M(jìn)一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨......

詳細(xì)介紹

◆ 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

 HAADF-STEM圖像0.136 nm,F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)

 HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)

 明場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)


◆ 高速,高靈敏度能譜分析:探針電流×10倍

 元素面分布更迅速及時(shí)

 低濃度元素檢測(cè)


◆ 操作簡(jiǎn)化

 自動(dòng)圖像對(duì)中功能


◆ 從樣品制備到觀察分析實(shí)現(xiàn)無(wú)縫連接

 樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容


◆ 配有各種選購(gòu)件可執(zhí)行各種評(píng)估和分析操作

 同時(shí)獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。

 低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至低)

 高精度放大校準(zhǔn)和測(cè)量*

 實(shí)時(shí)衍射單元*(同時(shí)觀察暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)

 采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*,具有自動(dòng)傾斜圖像獲取功能。

 ELV-3000即時(shí)元素面分布系統(tǒng)*(同時(shí)獲取暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像)


◆ HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡


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