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陜西天士立科技有限公司


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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

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參   考   價(jià): 980000

訂  貨  量: ≥1 套

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)STA1200

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地西安市

聯(lián)系方式:王偉查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間:2024-04-29 17:26:24瀏覽次數(shù):258次

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經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品:13條

所在地區(qū):陜西西安市

聯(lián)系人:王偉 (總經(jīng)理)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新

適用于Si(選配 SiC , GaN)材料的單管級(jí)IGBTs, Diodes, MOSFETs,的動(dòng)態(tài)特性測(cè)試電壓源 1200V(選配 2000V)電流源 100A(選配 200A/300A)驅(qū)動(dòng)電壓±20V(選配±30V)個(gè)性單元與主機(jī)靈活搭配,計(jì)算機(jī)程控操作

詳細(xì)介紹

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)

 

適用于Si(選配 SiC , GaN)材料的單管級(jí)IGBTs, Diodes, MOSFETs,的動(dòng)態(tài)特性測(cè)試

電壓源 1200V(選配 2000V)電流源 100A(選配 200A/300A)驅(qū)動(dòng)電壓±20V(選配±30V)

個(gè)性單元與主機(jī)靈活搭配,計(jì)算機(jī)程控操作

 

 

 

試驗(yàn)?zāi)芰?/span>

基本配置

ü 標(biāo)配,開(kāi)通特性測(cè)試單元 / Turn_ON

ü 標(biāo)配,關(guān)斷特性測(cè)試單元 / Turn_OFF

ü 標(biāo)配,二極管反向恢復(fù)測(cè)試單元 / Trr

ü 標(biāo)配,柵電荷測(cè)試單元 / Qg

¨   選配,容阻測(cè)試單元 / CR

¨   選配,短路測(cè)試單元 / SC

¨   選配,雪崩測(cè)試單元 / UIS

¨   選配,安全工作區(qū)單元 / SOA

¨   選配,動(dòng)態(tài)電阻單元 /

高壓源:1200V(選配 2000V)

高流源:100A(選配 200A/300A/500A)

驅(qū)動(dòng)電壓:±20V(選配±30V)

時(shí)間分辨率:1ns(選配 400ps/200ps/100ps)

系統(tǒng)雜感:<20nH

測(cè)試對(duì)象:Si(選配SiC/GaN材料IGBTs , Diodes , MOSFETs(選配BJT)

變溫測(cè)試:常溫~150℃/200℃

感性負(fù)載:程控電感(0.01mH-160mH,步進(jìn)10uH),選配定制電感

阻性負(fù)載:程控電阻(1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω)備用三個(gè)電阻

測(cè)試管型:可以測(cè)試N溝道和P溝道的IGBTs , MOSFETs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60747-9/IEC60747-2

國(guó)標(biāo)GB/T29332/GB/T4023

 

 

 

 

 






產(chǎn)品概述

STA1200 型晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng),是一款主要面向“單管級(jí)器件"用戶(hù)服務(wù)的測(cè)試設(shè)備,可實(shí)現(xiàn)對(duì)Si 基(選配SiC/GaN)材料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT的多種動(dòng)態(tài)參數(shù)的精確測(cè)試,測(cè)試原理符合國(guó)GJ標(biāo)。

能夠測(cè)試測(cè)試的參數(shù)包括開(kāi)通時(shí)間、關(guān)斷時(shí)間、上升時(shí)間、下降時(shí)間、導(dǎo)通延遲時(shí)間、關(guān)斷延 遲時(shí)間、開(kāi)通損耗、關(guān)斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺(tái)電壓、反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù) 充電電量、反向恢復(fù)電流、反向恢復(fù)損耗、反向恢復(fù)電流變化率、反向恢復(fù)電壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉(zhuǎn)移電容、短路等等。

通過(guò)更換不同個(gè)性單元(簡(jiǎn)稱(chēng)DUT)以達(dá)到對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目,通過(guò)軟件切換可以選擇測(cè)試單元、測(cè)試項(xiàng)目及配置測(cè)試參數(shù)、讀取保存測(cè)試結(jié)果。系統(tǒng)集成度高,性能穩(wěn)定,具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃芎土己玫娜藱C(jī)交互。

該測(cè)試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“晶體管動(dòng)態(tài)特性手動(dòng)測(cè)試平臺(tái)"。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性以及擴(kuò)展性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。為從事功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的測(cè)試用戶(hù)奉上一款優(yōu)秀產(chǎn)品。

 

測(cè)試參數(shù)

switch

Trr

Qg

SC

UIS

CR

td(on)開(kāi)通延遲

td(off)關(guān)斷延遲

tr 上升時(shí)間

tf 下降時(shí)間

ton 開(kāi)通時(shí)間

toff 關(guān)斷時(shí)間

Eon 開(kāi)通損耗

Eoff 關(guān)斷損耗

反向恢復(fù)時(shí)間 Trr

反向恢復(fù)電荷 Qrr

反向恢復(fù)電流 Irm

反向恢復(fù)損耗 Erec

軟度因子 FRRS

電流下降率 di/dt

電壓變化率 dv/dt

Qg(th)閾值電荷

Vg 平臺(tái)電壓

Qg 柵電荷

Qgs 柵源電荷

Qgd 柵漏電荷

 

Icsc 短路電流

Tsc 短路時(shí)間

Esc 短路耐量

EAS 雪崩能量

IAS 雪崩電流

PAS 雪崩功率

Ciss 輸入電容

Coss 輸出電容

Cres 反饋電容

Rg 柵極電阻

 

 


外觀架構(gòu)

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

系統(tǒng)特點(diǎn)

  1. 專(zhuān)注于寬禁帶功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)評(píng)測(cè),基于平臺(tái)開(kāi)發(fā)的人機(jī)交互界面,所有測(cè)試條件均可界面化輸入,系統(tǒng)閉環(huán)處理,自動(dòng)調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)試;

  2. 采用光纖驅(qū)動(dòng)信號(hào)通訊,響應(yīng)速度快,抗干擾能力強(qiáng);

  3. 設(shè)備帶有自動(dòng)高溫加熱功能,溫度范圍:室溫~200℃,精度±0.1℃;

  4. 結(jié)果輸出形式:Excel數(shù)據(jù),.JPEG格式波形,Excel波形數(shù)據(jù),其波形可實(shí)現(xiàn)任意放大,縮小細(xì)節(jié)展寬處理分析;

  5. 測(cè)試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實(shí)測(cè));

  6. 柵極驅(qū)動(dòng)電阻Rg端口開(kāi)放,方便客戶(hù)按照設(shè)定條件匹配電阻;

  7. 采用Dual ARM控核,DSP作數(shù)據(jù)采樣計(jì)算,極大的減少了控制時(shí)延帶來(lái)的誤差;

     


    參數(shù)指標(biāo)

標(biāo)配(阻性/感性)開(kāi)關(guān)測(cè)試單元 / Turn_ON/OFF

漏極電壓測(cè)試范圍:5V-1200V,分辨率 1V

漏極電流測(cè)試范圍:1A-100A,分辨率1A;

柵極驅(qū)動(dòng):±20V(選配±30V),分辨率 0.1V

MAX柵極電流:2A

脈沖寬度:1us-500us,步進(jìn) 0.1us

時(shí)間測(cè)試精度:1ns

感性負(fù)載:0.01mH-160mH 程序控制,步進(jìn) 10uH

阻性負(fù)載:1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω,程序控制,備用三個(gè)電阻

開(kāi)通/關(guān)斷時(shí)間 ton/toff:1-10000ns分辨率1ns(選配400/200/100ps)

開(kāi)通/關(guān)斷延遲 td(on)/td(off):0.1-10000ns@1ns(選配400/200/100ps)

上升/下降時(shí)間 tr/tf:1-10000ns分辨率1ns(選配400/200/100ps)

開(kāi)通/關(guān)斷損耗 Eon/Eoff:1-2000mJ 最小分辨率 1uJ

標(biāo)配 二極管反向恢復(fù)測(cè)試單元 / Qrr_FRD

正向電流:1A-25A,分辨率 0.1A

25A-100A(選配200A/300A)分辨率 1A

反向電壓:5v-100V,步進(jìn) 0.1V

100V-1200V,步進(jìn) 1.0v

反向恢復(fù)時(shí)間 Trr:1-10000ns,最小分辨率1ns(選配400/200/100ps)

反向恢復(fù)電荷 Qrr:1nC-100µC,最小分辨率 1nC;

反向恢復(fù)電流 Irm:1A-100A(選配200A/300A);

反向恢復(fù)損耗 Erec:1-2000mJ,最小分辨率 1uJ;

電流下降率 dif/dt:50-1kA/us;

電壓變化率 dv/dt:50-1kV/us。

¨ 選配 容阻測(cè)試單元 / CR

電容測(cè)試掃頻范圍:0.1MHz~5MHz

漏源極電壓:1200V,分辨率 1V

測(cè)試參數(shù):Ciss、Coss、Cres

標(biāo)配 柵極電荷單元 / Qg

驅(qū)動(dòng)電流:0-2mA,分辨率 0.01mA

2-20mA,分辨率 0.1mA

20mA-200mA,分辨率 1mA

柵極電壓:±20V(選配±30V)@0.1V

恒流源負(fù)載:1-25A,分辨率0.1A

25-100A(選配200A/300A)@1A

漏極電壓:5-100V,步進(jìn) 0.1V

100-1200V,步進(jìn) 1.0V

柵極電荷 Qg:1nC-100µC

漏極電荷 Qgs:1nC-100µC

源極電荷 Qgd:1nC-100µC

平臺(tái)電壓 Vgp:0~30V,分辨率 0.1V

¨ 選配 短路特性測(cè)試單元 / SC

最MAX電流:1000A

脈寬:1us~100us

柵驅(qū)電壓:±20V(選配±30V)@0.1V

漏極電壓:5V~100V,0.1V 分辨率

100V~1200V,1.0V 分辨率

¨ 選配 雪崩測(cè)試單元 / UIS

雪崩耐量/EAS:100J

雪崩擊穿電壓/2500V

雪崩電流/IAS:1.0-400A 分辨率 1.0A

感性負(fù)載/0.01-160mH@10μH,程控可調(diào)

¨  動(dòng)態(tài)電阻Ron,dy

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與原理

 

 

 


關(guān)鍵電路及部件

主電路

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

測(cè)試板

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 


 

測(cè)試板布局

 

? 低寄生Layout       ? 高抗噪       

? VDS(on)鉗位電路       ? 探頭自動(dòng)校準(zhǔn)

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

 

 

 

 

 

邏輯控制板

? 柵極光纖通信            ? FPGA+DSP架構(gòu)           ? 波形數(shù)據(jù)深度存儲(chǔ)技術(shù)

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

人機(jī)界面

初始界面

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

 

系統(tǒng)設(shè)置界面

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

 

 

 

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置界面

 

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

 

 

 

 

 

 

系統(tǒng)自動(dòng)校準(zhǔn)

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

實(shí)測(cè)展示

下管驅(qū)動(dòng)使能,電感與上管體二極管并聯(lián)

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

雙脈沖測(cè)試結(jié)果

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀


測(cè)試鏈路圖(采樣部分)上管驅(qū)動(dòng)使能,電感自動(dòng)切換與下管體二極管并聯(lián)

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 

 

反向恢復(fù)測(cè)試結(jié)果

 

 

晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀

 

 


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