詳細(xì)介紹
一、試驗(yàn)滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗(yàn)方法 Bb
2、GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)
二、產(chǎn)品特點(diǎn):
1、支持SATAI/II/III的測(cè)試;
2、支持SATA的測(cè)試片數(shù)定制如100片、150片、200片、400片等;
3、支持研發(fā)微小型定制化,例如:2片、6片等等;
4、支持室溫+150°C的試驗(yàn);
5、支持自動(dòng)化溫控設(shè)備;
6、支持全部采用軟體進(jìn)行智能化控制測(cè)試;
7、支持測(cè)試軟體的定制化,支持箱內(nèi)風(fēng)速與為溫度平衡;
8、支持PICIE / EMMC / UFS / DRAM / FLASH 老化的定制性研發(fā);
9、支持網(wǎng)絡(luò)化控制,可以異地控制測(cè)試著并且看測(cè)試結(jié)果;
一、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)/材質(zhì):
外壁:雙面鍍鋅鋼板,表面噴塑處理
外部結(jié)構(gòu)加強(qiáng)件:雙面鍍鋅鋼板、表面噴塑處理或 Q235 型鋼、表面酸洗、磷化、表面噴塑處理
內(nèi)壁:SUS321(1.2mm)不銹鋼板
內(nèi)部結(jié)構(gòu)加強(qiáng)件:SUS321 2mm 厚不銹鋼加固
絕熱材料:硬質(zhì)聚氨酯泡沫+超細(xì)玻璃纖維
試驗(yàn)箱底板承重能力:≤160kg/m(均勻載荷),但箱內(nèi)總的承重量(底板和樣品架合計(jì))不超過:160kg