詳細(xì)介紹
雙層HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱--加速老化測(cè)試
昊極科技雙層HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測(cè)試,對(duì)上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測(cè)試。
昊極科技的雙層HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱提供了人性化的功能:大的內(nèi)部空間使其更容易加載 PCB。標(biāo)準(zhǔn)功能包括加熱和冷卻階段的冷凝保護(hù)功能、程序控制、用于控制測(cè)試樣品的12個(gè)觸點(diǎn)和自動(dòng)供水功能。
昊極科技HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱符合IEC 60068-2-66 標(biāo)準(zhǔn),并具有21或51升的標(biāo)準(zhǔn)容積以及帶有兩個(gè)獨(dú)立測(cè)試室的雙室系統(tǒng)可供選擇。
昊極科技的HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱用于電子元件的加速氣候測(cè)試,具有可靠、可重復(fù)的結(jié)果。
特點(diǎn)
警報(bào)指示器(聲音和視覺)
無(wú)電位開關(guān)觸點(diǎn)
2個(gè)貨架
用于主動(dòng)測(cè)試的12針信號(hào)端子
可以使用不飽和控制和濕度飽和控制進(jìn)行測(cè)試
移動(dòng)式
昊極自主研發(fā)控制器
雙層HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱規(guī)格表