詳細(xì)介紹
一、tt260涂層測(cè)厚儀價(jià)格符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
二、tt260涂層測(cè)厚儀價(jià)格特點(diǎn):
1、采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;
2、可使用 7 種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
3、具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
4、具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B);
5、設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、
標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
6、可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
7、具有存貯功能:可存貯 495 個(gè)測(cè)量值;
8、具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
9、可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;
10、具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;
11、具有與 PC 機(jī)通訊的功能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至 PC 機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理;
12、具有電源欠壓指示功能;
13、操作過程有蜂鳴聲提示;
14、具有錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;
15、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;
三 測(cè)量原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合 概述 金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型測(cè)頭)
當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N 型測(cè)頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn) 生電渦流,并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?,通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
四、儀器的校準(zhǔn)
為使測(cè)量準(zhǔn)確,應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片(包括箔和基體)
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
a) 校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn),而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法, 覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法,覆蓋層是非導(dǎo)電的。
3.2 基體
a) 對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
2) 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
3.3 校準(zhǔn)方法
本儀器有三種測(cè)量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。
3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn)
適用于除 CN02 外的所有的測(cè)頭。
a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×.×µm>。
b) 按 ZERO 鍵,屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量了。
c) 重復(fù)上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn),高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn)
3.3.2.1 一試片法
適用于除 CN02 外的所有測(cè)頭。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
a) 先校零點(diǎn)(如上述)。
b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×××µm>。
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量了。
3.3.2.2 二試片法
適用于除 CN02 外的所有測(cè)頭。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。
a) 先校零值。
b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,用↑、↓鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。
c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量,用↑、↓鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量了。
3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值,其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一:
a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b) 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴沙處理的表面測(cè)量 10 次左右,得到平均值 Mo。
c) 然后,在已涂覆的表面上測(cè)量 10 次得到平均值 Mm。
d) (Mm—Mo)±S 即是覆蓋層厚度。
其中 S(標(biāo)準(zhǔn)偏差)是 SMm和 SMo 中較大的一個(gè)。
方法二:
a) 用直接方式下的單次測(cè)量法測(cè)量。
b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。
c) 在試樣上測(cè)量 5~10 次。按 STATS 鍵,統(tǒng)計(jì)值中的平均值即是覆層厚度。
3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法
適用于 N1 測(cè)頭,并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。(去掉 N400、N1/90°)
⊙必須使用一試片法。
⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。
3.3.2.5 CN02 測(cè)頭的校準(zhǔn)方法
CN02 是一種平展的測(cè)頭,僅適用于測(cè)量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。
a) 開機(jī)后,將 CN02 測(cè)頭平穩(wěn)地放在隨機(jī)配帶的 5.0mm 銅塊上,按 ZERO 鍵,屏幕顯示“OO”;
b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量;
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量。
d) 測(cè)量雙面覆銅板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。
3.3.3 修改組 FX中的校準(zhǔn)值
刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn) E20 錯(cuò)誤代碼和鳴響報(bào)警。更換測(cè)頭后,必須用此方法。
3.4 基本校準(zhǔn)的修正
在下述情況下,改變基本校準(zhǔn)是有必要的:
____測(cè)頭頂端被磨損。
____新?lián)Q的測(cè)頭。
____特殊的用途。
在測(cè)量中,如果誤差明顯地超出給定范圍,則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱為基本校準(zhǔn)。通過輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值(1 個(gè)零和 5 個(gè)厚度值),可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住↑和↓鍵再按 ON 鍵,直到一聲長(zhǎng)鳴,即進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài);
b) 先校零值??蛇B續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次,以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值,這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性;
c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片,按厚度增加的順序,一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的 1.6 倍以上,理想的情況是 2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。zui大值應(yīng)該接近但低于測(cè)頭的zui大測(cè)量范圍;