X射線熒光光譜儀EDX9000B粉末直接壓片法測定鐵礦中的主次元素含量

本應(yīng)用案例采用塑料環(huán)作鑲?cè)?粉末直接壓片,用X射線熒光光譜儀EDX9000B礦石分析儀測定哈默斯雷鐵礦中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO、K2O和Na2O的含量,試驗結(jié)果表明:基體影響無需進行校正,方法的準確度和精密度均較高,結(jié)果令人滿意

EDX9000B新款XRF礦石分析儀，繼續(xù)其在礦石礦產(chǎn)分析儀市場的創(chuàng)新。 EDX9000B礦石礦產(chǎn)分析測試儀是一款堅固耐用、*集成的封閉光束高功率EDXRF 系統(tǒng)，使用硅漂移檢測器，可以對各種樣品類型和基質(zhì)中的許多元素實現(xiàn)低 PPM 檢測限。 應(yīng)用包括燃料、添加劑和磨損金屬油到原油、水、焦炭和煤，使這種易于使用的分析儀成為傳統(tǒng)測試方法的快速、靈活的解決方案。

濃度為 99% 的可檢測元素包括：鋁、銻、鋇、鎘、鈣、氯、鉻、銅、鐵、錳、鉬、鎳、磷、鉀、硅、銀、硫、錫、鈦、釩和 鋅。