?能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000B礦石分析儀在礦物元素成分和品味分析中的應(yīng)用?

能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000B可用于礦物樣品中元素含量分析.可測(cè)量的元素一般位于元素周期表中11號(hào)鈉元素至92號(hào)鈾元素.這種分析方法的優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快.能量色散X射線熒光儀配置的基本參數(shù)法校準(zhǔn)可以在沒(méi)有或很少標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下提供定性和半定量分析.能量色散X射線熒光儀在礦物分析領(lǐng)域可廣泛用于礦物勘探,礦區(qū)繪圖,現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)采控制,品位控制和尾礦環(huán)境監(jiān)測(cè).其中手持式能量色散X射線熒光光譜儀可現(xiàn)場(chǎng)分析,節(jié)約樣品送往實(shí)驗(yàn)室分析的時(shí)間和費(fèi)用,臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀在標(biāo)準(zhǔn)樣品充足且有適當(dāng)?shù)臉悠非疤幚頃r(shí)可以提供更高的測(cè)量精度和準(zhǔn)確性.

XRF 的工作原理基于玻爾理論，核外電子吸收能量發(fā)生電離而使原子呈激發(fā)態(tài)，此時(shí)高能級(jí)上的電子會(huì)發(fā)生躍遷使原子重新回到基態(tài)，同時(shí)釋放相應(yīng)的能量。激發(fā)光源（X 射線管）形成一次 X 射線，當(dāng)一次X 射線的能量大于受激的原子的內(nèi)層電子結(jié)合能時(shí)，會(huì)使內(nèi)層（K 層）電子吸收相應(yīng)的能量而電離（俄歇電子），從而形成電子空穴，為了使原子重新回到穩(wěn)定態(tài)，中、外層電子必須躍遷至內(nèi)層補(bǔ)充空穴，在躍遷的過(guò)程中釋放相應(yīng)的能量形成熒光 X 射線。根據(jù)各個(gè)元素放射的 X 射線熒光光譜的不同，可以對(duì)元素進(jìn)行定性分析，區(qū)分元素的種類(lèi)。測(cè)出同種元素不同含量樣品的熒光 X 射線的強(qiáng)度，采樣標(biāo)準(zhǔn)曲線對(duì)光強(qiáng)和元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)進(jìn)行擬合，從而利用標(biāo)準(zhǔn)曲線對(duì)其他樣品進(jìn)行定量分析。

XRF礦石分析儀能量色散的方法，利用半導(dǎo)體探測(cè)器將不同能量的 X 射線分開(kāi)并檢測(cè)，這樣可以同時(shí)檢測(cè)樣品中幾乎所有的元素，目前光譜儀XRF的有 Si-PIN(硅 PIN)和 SDD（硅漂移）探測(cè)器。工作時(shí)，首先由儀器產(chǎn)生高壓電流，激發(fā) X 射線管形成一次 X 射線打到樣品表面，樣品受激發(fā)形成熒光 X 射線，被探測(cè)器檢測(cè)到信號(hào)并通過(guò)計(jì)算機(jī)形成光譜圖。

大部分便攜式 XRF 分析儀都帶有不同的分析模式，以滿足不同行業(yè)和不同分析要求。地質(zhì)樣品可以制成粉末，也可以是塊狀巖石樣和坑道、鉆孔巖石樣，樣品分析可以做到原位無(wú)損測(cè)試。

樣品的均勻程度與分析數(shù)據(jù)的精度成正比，一般粉末樣品測(cè)試的結(jié)果可靠性比塊狀巖石樣高。在野外工作中，考慮到數(shù)據(jù)采集的高效性，多直接對(duì)巖石樣品進(jìn)行分析。

XRF礦石分析儀能量色散EDX9000B礦樣測(cè)試譜圖如下：