儀器儀表密封防塵測(cè)試箱 返回列表頁(yè)

儀器儀表密封防塵測(cè)試箱的特性：可編程控制器分別對(duì)除塵風(fēng)機(jī)、粉塵振動(dòng)和總的試驗(yàn)時(shí)間進(jìn)行單獨(dú)或集體的時(shí)間控制。試驗(yàn)時(shí)間為99小時(shí)59分箱內(nèi)風(fēng)速可調(diào)（通過(guò)變頻器自動(dòng)調(diào)節(jié)）。

試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定氣流攜帶的粒子對(duì)電工產(chǎn)品可能造成的有害影響。試驗(yàn)可用于模擬開(kāi)放的由自然環(huán)境或者人為擾動(dòng)例如車輛運(yùn)動(dòng)誘發(fā)的砂塵空氣環(huán)境條件。適用于電工電子產(chǎn)品、汽車零部件、密封件在砂塵環(huán)境中防止砂塵進(jìn)入密封件和外殼的試驗(yàn)。

儀器儀表密封防塵測(cè)試箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GBT2423.37-La2、IEC60068-2-68-La2、ISO20653-La2、GB4208-93-12.4、IEC60529-13.4。