低溫環(huán)境箱

低溫環(huán)境箱適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各項性能指標(biāo)。
性能特點
　　具有及寬的溫度控制范圍和*的控制精度，可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》1、2項的試驗要求。
　　采用*的平衡調(diào)溫方式，可調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，可進行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
　　制冷控制：PLC根據(jù)箱內(nèi)溫度的設(shè)定值和實際值自動控制壓縮機和制冷閥，滿足不同的試驗要求，減少設(shè)備運行功率，確保壓縮機的安全運行。

低溫環(huán)境箱符合標(biāo)準(zhǔn)
　　GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件　
　　GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
　　GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件 　
　　GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
　　GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
　　GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
　　GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗
　　GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
　　GB/T2951.12-2008/IEC 60811-1-2：1985；GB/T2951.14-2008/IEC 60811-1-4：1985；