詳細介紹
Discovery閃光導熱儀
TA儀器提供了一系列的儀器用于測量*寬溫度范圍內(nèi)(-150℃ 到2800℃)的熱擴散系數(shù)。模塊化的結構設置使得Discovery閃光導熱儀平臺成為在市場上同類產(chǎn)品中*具靈活的系統(tǒng)。用戶可以根據(jù)日后需求的變化,靈活添加其他環(huán)境或光源模塊。Discovery閃光導熱儀系統(tǒng)配置
Discovery閃光導熱儀系統(tǒng)可以通過對光源模塊和環(huán)境模塊進行搭配配置。光源模塊包括脈沖光源,為高速氙燈(HSXD)燈或激光。環(huán)境模塊包括爐體,樣品架和溫度探測器。光源模塊和環(huán)境模塊的多種組合可根據(jù)樣品、溫度范圍和預算提供*合適的配置。桌上型配置可以適應一系列環(huán)境模塊,在幾秒鐘內(nèi)完成不同組合的互換。獨立的DLF-2激光源模塊是可移動的,可以很容易的群集設置在環(huán)境模塊的周圍。
配置表中列出了*受歡迎的Discovery導熱儀系統(tǒng)以及其他可能的光源模塊和環(huán)境模塊組合的配置。
配置表中列出了*受歡迎的Discovery導熱儀系統(tǒng)以及其他可能的光源模塊和環(huán)境模塊組合的配置。
****的**度
所有的Discovery Flash光源模塊均采用脈沖波形的實時記錄。因此,可以進行**的脈沖形狀和脈沖寬度校正計算和對t0***的判斷。Discovery 導熱儀的數(shù)據(jù)分析軟件還采用了*新的熱損失修正的方法。超過22種不同的熱損失修正模型集成在軟件中,為所有類型的材料提供*準確的測量。
傳感器技術
Discovery 導熱儀采用高靈敏度、快速響應傳感器對瞬態(tài)溫度變化做出***的測量。作為環(huán)境模塊不可分割的組成部分,探測器與樣品的光學準直在儀器出廠前完成,不需要用戶調整。探測器的類型專門依據(jù)環(huán)境模塊的工作溫度范圍進行選擇。對于中溫到高溫的測量,采用的是銻化銦(InSb)紅外探測器。這種探測器采用液氮冷卻,以確保*穩(wěn)定的輸出和*大重復性。
在較低的溫度下,和紅外探測器相比,專有的固態(tài)探針探測器能夠提供*優(yōu)的靈敏度和響應時間。在-150 ?C下固態(tài)探針探測器得到的溫升信號的信噪比與紅外探測器在低于室溫的信噪比相比,好于五倍以上。因此,提高了熱擴散系數(shù),比熱及導熱系數(shù)測量的準確性。EM-24和EM-200都采用固態(tài)探針探測器,由于具有任何以紅外探測器為基礎的系統(tǒng)在更低溫度下所不具備的測量能力,提供了在室溫下****的**度。
在較低的溫度下,和紅外探測器相比,專有的固態(tài)探針探測器能夠提供*優(yōu)的靈敏度和響應時間。在-150 ?C下固態(tài)探針探測器得到的溫升信號的信噪比與紅外探測器在低于室溫的信噪比相比,好于五倍以上。因此,提高了熱擴散系數(shù),比熱及導熱系數(shù)測量的準確性。EM-24和EM-200都采用固態(tài)探針探測器,由于具有任何以紅外探測器為基礎的系統(tǒng)在更低溫度下所不具備的測量能力,提供了在室溫下****的**度。
高效自動
所有Discovery 閃光法熱擴散系數(shù)測量儀均配置有多樣品自動測量系統(tǒng)。這些系統(tǒng)可以對兩個、四個、六個或二十四個樣品,在同一實驗中進行測量。雖然單一樣品的閃光法熱擴散系數(shù)測量儀器在一定溫度下所需測量時間很短,但是當把建立真空、惰性氣體吹掃、升溫及達到溫度穩(wěn)定后測量、完成實驗后降溫冷卻、裝載新的樣品后重復以上的過程,總的實驗時間是非??捎^的。
多樣品同時測量不僅帶來高效率,而且在提高測量準確度方面具有至關重要的影響。比熱測量依靠在待測樣品和參比樣品上進行相同的閃光實驗做比較。在相同的條件下,即時、按序的對待測樣品和參比樣品進行閃光實驗比較,是保證比熱測量準確可靠的重要條件,而單一樣品的閃光法熱擴散系數(shù)測量儀不能滿足這樣的條件。使用Discovery 閃光法熱擴散系數(shù)測量儀,可以在相同的環(huán)境下,在短時間內(nèi),對待測樣品和參比樣品進行按序測量得到可靠的比熱數(shù)據(jù),從而計算得到可靠的導熱系數(shù)。
多樣品同時測量不僅帶來高效率,而且在提高測量準確度方面具有至關重要的影響。比熱測量依靠在待測樣品和參比樣品上進行相同的閃光實驗做比較。在相同的條件下,即時、按序的對待測樣品和參比樣品進行閃光實驗比較,是保證比熱測量準確可靠的重要條件,而單一樣品的閃光法熱擴散系數(shù)測量儀不能滿足這樣的條件。使用Discovery 閃光法熱擴散系數(shù)測量儀,可以在相同的環(huán)境下,在短時間內(nèi),對待測樣品和參比樣品進行按序測量得到可靠的比熱數(shù)據(jù),從而計算得到可靠的導熱系數(shù)。