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ST-20掌上型方塊電阻測試儀

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  • 型號(hào) ST20
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  • 廠商性質(zhì) 其他
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更新時(shí)間:2021-08-26 17:00:33瀏覽次數(shù):474

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產(chǎn)品簡介

ST-20掌上型方塊電阻測試儀,ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻

詳細(xì)介紹

ST-20掌上型方塊電阻測試儀

ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

ST-20掌上型方塊電阻測試儀

1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準(zhǔn)確穩(wěn)定
2、低功耗
3、采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示
4、 儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜
6、探頭帶抗靜電模塊

ST-20掌上型方塊電阻測試儀

測量范圍

基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴(kuò)展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)

測量不確定度

≤5%

探針規(guī)格

探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

測量過程誤差:≤±0.8%

電源

9V疊層電池1節(jié)

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