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芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/11/23 11:35:46
  • 訪問(wèn)次數(shù)75
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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    廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司成立于1988年,多年以來(lái)一直主力經(jīng)營(yíng)可靠性試驗(yàn)設(shè)備,并致力于技術(shù)研究與品質(zhì)改善;配套提供專業(yè)意見(jiàn)、完善的產(chǎn)品、快速的售后服務(wù)。
公司位于東莞市南城,地理位置*、交通及其便捷。數(shù)年來(lái)公司堅(jiān)持致力于產(chǎn)品的
制造、研發(fā)、設(shè)計(jì)和銷售、服務(wù)為一體的生產(chǎn)企業(yè),擁有雄厚的技術(shù)力量、一如既往為客戶提供可靠、質(zhì)優(yōu)價(jià)廉的“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備”滿足客戶的要求。公司產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于IC、電子、家電、通信、電腦、航空航天、兵器、汽車、線路板、連接器等行業(yè)和領(lǐng)域,成為其縮短開(kāi)發(fā)周期,提升產(chǎn)品品質(zhì)的*的得力助手。
多年以來(lái),為了能夠撐控更高的產(chǎn)品品質(zhì)、更精密的制造技能、*的管理經(jīng)營(yíng)理念;故
1995年與日本試驗(yàn)設(shè)備制造商進(jìn)行全面合作,不斷開(kāi)發(fā)新的產(chǎn)品,從而提升市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)力;并努力降低制造成本,把其利潤(rùn)回饋給客戶,使其能擁有品質(zhì)優(yōu)良、價(jià)格合理、服務(wù)到位之產(chǎn)品,進(jìn)而達(dá)到雙贏之目的,Z終迎得客戶的信賴與滿意。
公司“ASLi”的商標(biāo)早在北京商標(biāo)局已注冊(cè),依托*的技術(shù),多年的研發(fā)銷售經(jīng)驗(yàn),以*的設(shè)計(jì)理念,可靠的制造工藝,*的檢測(cè)設(shè)備,*的售后服務(wù)贏得了廣大客戶的信賴與和支持。我們通過(guò)不斷的提升品質(zhì),強(qiáng)化管理,完善服務(wù),迅速成為國(guó)內(nèi)*的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家。
我們秉持“持續(xù)改進(jìn),追求*”的經(jīng)營(yíng)理念,“客戶的滿意即是我們努力之所在”的服務(wù)宗旨,愿與新老客戶攜手共創(chuàng)輝煌。

   公司主要生產(chǎn):可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),三綜合振動(dòng),溫度/濕度復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)機(jī),溫度沖擊試驗(yàn)機(jī),沖擊試驗(yàn)臺(tái),步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動(dòng),鹽霧試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)機(jī),二箱沖擊,雙85試驗(yàn)箱,UV紫外線,沙塵試驗(yàn)機(jī),沖擊碰撞,電腦插拔力,三次元,耐光試驗(yàn),耐水試驗(yàn),蒸氣老化,換氣式老化,破裂強(qiáng)度等系列產(chǎn)品...
  本公司可訂做各種特殊(非標(biāo))要求的可靠性試驗(yàn)設(shè)備機(jī)型。

可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),三綜合振動(dòng),溫度/濕度復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)機(jī),溫度沖擊試驗(yàn)機(jī),沖擊試驗(yàn)臺(tái),步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動(dòng)
芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施:1、可靠的接地保護(hù)裝置2、電源欠壓、缺相保護(hù)3、獨(dú)立的工作室超溫保護(hù)4、制冷機(jī)超壓、過(guò)載、油壓欠壓保護(hù)
芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施 產(chǎn)品信息

    芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施:

    1、可靠的接地保護(hù)裝置  

    2、電源欠壓、缺相保護(hù)  

    3、獨(dú)立的工作室超溫保護(hù)  

    4、制冷機(jī)超壓、過(guò)載、油壓欠壓保護(hù);  

    5、加熱器短路、過(guò)載保護(hù)  

    6、漏電保護(hù)、報(bào)警聲訊提  

    芯片高低溫測(cè)試設(shè)備規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù):

    1.溫度范圍:-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-70~+150/-85~+150℃。  

    2.控制穩(wěn)定度:±0.5℃  

    3.分布均勻度:±1.5℃  

    4.正常升溫時(shí)間:-+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。  

    5.正常降溫時(shí)間:+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-50℃小于65分鐘.  

    +20~-60℃小于70分鐘/+20~-70℃小于75分鐘/20~-85℃小于100分鐘非線性空載.  

    適合測(cè)試:鋰離子、鎳氫、鎳鎘、鉛酸、金屬氫化物鎳等多種類型的單體電池和電池組,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB8897.4-200(idtIEC60086-4:2000)《原電池第4部分:鋰電池的要求》、GB8897.5-2006(idtIEC60086-5:2005)《原電池第5部分:水溶液電解質(zhì)電池的要求》、IEC62133:2002《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式密封二次單體電池和電池組的要求》、IEC61951-1:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第1部分:  

    芯片高低溫測(cè)試設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):  

    1.GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件(本公司為起草單位之一)  

    2.GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(本公司為起草單位之一)  

    3.GB10592-2008芯片高低溫測(cè)試設(shè)備技術(shù)條件(本公司為起草單位之一)  

    4.GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(本公司為起草單位之一)  

    5.GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法  

    6.GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法  

    7.GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)  

    8.GB/T2423.4-1993試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法  

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